阻变存储器测试系统设计与实现
| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-12页 |
| 1.1.1 传统浮栅存储器的发展现状 | 第10页 |
| 1.1.2 新型非易失性存储器 | 第10-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.3 本文的研究内容和章节安排 | 第13-15页 |
| 第二章 RRAM基本原理与参数 | 第15-29页 |
| 2.1 材料体系 | 第15页 |
| 2.2 阻变存储器的阻变机制 | 第15-25页 |
| 2.2.1 导电细丝机制 | 第15-24页 |
| 2.2.2 基本操作 | 第24-25页 |
| 2.3 阻变存储器性能参数 | 第25-29页 |
| 2.3.1 编程电压 | 第25页 |
| 2.3.2 擦写速度 | 第25-26页 |
| 2.3.3 耐久性 | 第26页 |
| 2.3.4 数据保持特性 | 第26-27页 |
| 2.3.5 均一性 | 第27页 |
| 2.3.6 多值存储 | 第27-28页 |
| 2.3.7 器件可微缩性 | 第28-29页 |
| 第三章 系统需求分析与框架设计 | 第29-37页 |
| 3.1 需求分析 | 第29-32页 |
| 3.1.1 测试芯片单元介绍 | 第29-30页 |
| 3.1.2 测试样品引脚介绍 | 第30-32页 |
| 3.1.3 器件的性能参数 | 第32页 |
| 3.2 系统分析与功能设计 | 第32-33页 |
| 3.2.1 测试模式对设备资源的要求 | 第32页 |
| 3.2.2 芯片引脚操作步骤 | 第32-33页 |
| 3.2.3 测试系统功能的设计 | 第33页 |
| 3.3 系统框架设计 | 第33-36页 |
| 3.3.1 自定义编程脉冲算法 | 第34-35页 |
| 3.3.2 测试总体结构设计 | 第35-36页 |
| 3.4 本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 测试系统硬件与软件的设计 | 第37-63页 |
| 4.1 硬件电路设计 | 第37-49页 |
| 4.1.1 通信模块 | 第40页 |
| 4.1.2 脉冲生成模块 | 第40-44页 |
| 4.1.3 地址选择使能模块 | 第44-45页 |
| 4.1.4 外部读写模块 | 第45-48页 |
| 4.1.5 实测波形图 | 第48-49页 |
| 4.2 软件设计 | 第49-60页 |
| 4.2.1 通信协议设定 | 第50-51页 |
| 4.2.2 上位机软件设计 | 第51-52页 |
| 4.2.3 下位机软件设计 | 第52-60页 |
| 4.3 系统硬件软件整合实测 | 第60-61页 |
| 4.3.1 系统整合波形 | 第60-61页 |
| 4.3.2 测试系统性能指标 | 第61页 |
| 4.4 本章小结 | 第61-63页 |
| 第五章 总结与展望 | 第63-65页 |
| 5.1 论文工作总结 | 第63-64页 |
| 5.2 展望 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-70页 |
| 图表目录 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72页 |
