| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 引言 | 第10-14页 |
| 1.2 保偏光纤偏振耦合技术及应用 | 第14-17页 |
| 1.3 论文主要工作 | 第17-18页 |
| 第2章 保偏光纤中的偏振耦合及测试 | 第18-30页 |
| 2.1 保偏光纤产生偏振耦合的理论与方法 | 第18-26页 |
| 2.1.1 保偏光纤产生偏振耦合理论 | 第18-22页 |
| 2.1.2 保偏光纤产生偏振耦合方式 | 第22-26页 |
| 2.2 保偏光纤中偏振耦合的测试 | 第26-29页 |
| 2.2.1 Kerr效应偏振耦合测试系统 | 第26-27页 |
| 2.2.2 OTDR光学时域反射法 | 第27-28页 |
| 2.2.3 OCDP光纤相干域偏振测试法 | 第28-29页 |
| 2.3 本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 电极放电在保偏光纤中产生偏振耦合的机理分析 | 第30-51页 |
| 3.1 保偏光纤偏轴熔接致偏振耦合 | 第30-31页 |
| 3.1.1 保偏光纤偏轴熔接致偏振耦合理论 | 第30页 |
| 3.1.2 保偏光纤偏轴熔接致偏振耦合实验 | 第30-31页 |
| 3.2 保偏光纤变形致偏振耦合 | 第31-33页 |
| 3.2.1 保偏光纤变形致偏振耦合理论 | 第31-32页 |
| 3.2.2 保偏光纤变形致偏振耦合实验 | 第32-33页 |
| 3.3 保偏光纤残余扭转致偏振耦合 | 第33-49页 |
| 3.3.1 保偏光纤残余扭转致偏振耦合仿真 | 第33-48页 |
| 3.3.2 保偏光纤残余扭转致偏振耦合实验 | 第48-49页 |
| 3.4 本章小结 | 第49-51页 |
| 第4章 基于电极放电的保偏光纤弱偏振耦合点产生方法 | 第51-61页 |
| 4.1 利用扭转角度控制弱耦合强度 | 第51-55页 |
| 4.1.1 利用扭转角度控制弱耦合强度仿真 | 第51-54页 |
| 4.1.2 利用光纤扭转角度控制弱耦合强度实验 | 第54-55页 |
| 4.2 利用电机电流大小控制弱耦合强度 | 第55-57页 |
| 4.2.1 利用电极电流大小控制弱耦合强度仿真 | 第55-56页 |
| 4.2.2 利用电极电流大小控制弱耦合强度实验 | 第56-57页 |
| 4.3 利用电电极放电时间长短控制弱耦合强度 | 第57-60页 |
| 4.3.1 利用电极放电时间长短控制弱耦合强度仿真 | 第57-58页 |
| 4.3.2 利用电极放电时间长短控制弱耦合强度实验 | 第58-60页 |
| 4.4 本章小结 | 第60-61页 |
| 结论 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67页 |
