基于ARM的显微成像对光学薄膜的缺损检测系统
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 缩略语对照表 | 第11-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-21页 |
| 1.1 选题背景及意义 | 第15-16页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第16-18页 |
| 1.2.1 显微成像国内外发展现状 | 第16-17页 |
| 1.2.2 光学薄膜检测的发展现状 | 第17-18页 |
| 1.3 本论文主要任务及安排 | 第18-21页 |
| 1.3.1 本论文主要任务 | 第18-19页 |
| 1.3.2 具体任务安排 | 第19-21页 |
| 第二章 嵌入式显微成像系统的光学设计 | 第21-37页 |
| 2.1 显微成像系统光学原理 | 第21-23页 |
| 2.1.1 显微成像系统概述 | 第21页 |
| 2.1.2 显微成像原理 | 第21-22页 |
| 2.1.3 显微镜分辨率和视觉放大率 | 第22-23页 |
| 2.2 系统视场匹配设计 | 第23-26页 |
| 2.2.1 视场匹配方案研究 | 第23-24页 |
| 2.2.2 视场匹配的公式推导及参数确定 | 第24-26页 |
| 2.3 显微镜头设计及仿真 | 第26-34页 |
| 2.3.1 显微物镜及转接境的选择 | 第26-29页 |
| 2.3.2 显微镜头设计仿真 | 第29-34页 |
| 2.4 系统照明设计 | 第34-36页 |
| 2.4.1 照明特点及分类 | 第34-35页 |
| 2.4.2 光源照明系统设计 | 第35-36页 |
| 2.5 本章小结 | 第36-37页 |
| 第三章 CMOS相机系统设计 | 第37-47页 |
| 3.1 图像传感器芯片的选型 | 第37-41页 |
| 3.1.1 CMOS与CCD传感器的异同 | 第37-39页 |
| 3.1.2 MIPI CSI-2 接口特点及优势 | 第39-41页 |
| 3.2 CMOS摄像头驱动板设计 | 第41-46页 |
| 3.2.1 IMX135外围驱动电路设计 | 第41-44页 |
| 3.2.2 CMOS电路PCB设计注意 | 第44-46页 |
| 3.3 本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 显微图像处理平台系统设计 | 第47-63页 |
| 4.1 树莓派处理器平台介绍 | 第47-50页 |
| 4.1.1 树莓派平台简介 | 第47-49页 |
| 4.1.2 显微图像处理系统 | 第49-50页 |
| 4.2 树莓派摄像头驱动程序设计 | 第50-54页 |
| 4.2.1 Linux系统设备驱动简介 | 第50页 |
| 4.2.2 V4L2驱动框架协议 | 第50-52页 |
| 4.2.3 V4L2的视频设备驱动开发总结 | 第52-54页 |
| 4.3 显微图像预处理 | 第54-55页 |
| 4.3.1 图像预处理的算法研究的分析 | 第54-55页 |
| 4.4 显微图像处理算法设计 | 第55-58页 |
| 4.4.1 基于图像块的融合算法 | 第55-56页 |
| 4.4.2 显微图像阈值分割算法实现 | 第56-58页 |
| 4.5 显微图像上位机软件设计 | 第58-61页 |
| 4.5.1 树莓派操作系统设置 | 第58-59页 |
| 4.5.2 上位机软件设计 | 第59-61页 |
| 4.6 本章小节 | 第61-63页 |
| 第五章 显微成像系统对薄膜的检测实验 | 第63-67页 |
| 5.1 薄膜表面缺陷测试方法 | 第63页 |
| 5.2 对光学薄膜的测试实验及结果分析 | 第63-66页 |
| 5.2.1 实验装置安装 | 第63-64页 |
| 5.2.2 薄膜表面缺陷检测结果分析 | 第64-66页 |
| 5.3 本章小节 | 第66-67页 |
| 第六章 总结与展望 | 第67-69页 |
| 6.1 论文工作总结 | 第67页 |
| 6.2 未来展望 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71-73页 |
| 作者简介 | 第73-74页 |
