摘要 | 第4-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 引言 | 第10-14页 |
1.1 粒子物理的发展历史 | 第10-11页 |
1.2 基本粒子和相互作用的传播子 | 第11页 |
1.3 高能物理实验 | 第11-12页 |
1.4 选题背景和意义 | 第12页 |
1.5 论文结构 | 第12-13页 |
1.6 本章小结 | 第13-14页 |
第二章 北京正负电子对撞机(BEPCⅡ)和北京谱仪(BESⅢ) | 第14-27页 |
2.1 北京正负电子对撞机(BEPCⅡ) | 第14-15页 |
2.2 北京谱仪(BESⅢ) | 第15-22页 |
2.2.1 束流管 | 第17页 |
2.2.2 主漂移室(MDC) | 第17-18页 |
2.2.3 飞行时间探测器(TOF) | 第18-19页 |
2.2.4 电磁量能器(EMC) | 第19-20页 |
2.2.5 μ子鉴别器(MUC) | 第20-21页 |
2.2.6 超导磁铁(SSM) | 第21页 |
2.2.7 触发判选系统 | 第21-22页 |
2.2.8 数据获取系统 | 第22页 |
2.3 离线计算机系统 | 第22-24页 |
2.4 BESⅢ离线软件系统和分析系统 | 第24-26页 |
2.4.1 离线数据处理和物理分析过程 | 第24页 |
2.4.2 BESⅢ探测器的模拟系统(BOSST) | 第24-25页 |
2.4.3 离线事例重建系统 | 第25页 |
2.4.4 BESⅢ离线刻度系统 | 第25-26页 |
2.5 本章小结 | 第26-27页 |
第三章 飞行时间探测器的离线数据质量监测 | 第27-49页 |
3.1 原始数据的检查 | 第27-35页 |
3.1.1 桶部原始数据的检查 | 第27-33页 |
3.1.2 端盖原始数据的检查 | 第33-35页 |
3.2 刻度过程的监测 | 第35-41页 |
3.2.1 TOF的测量时间 | 第35页 |
3.2.2 TOF的预期时间 | 第35-36页 |
3.2.3 刻度样本的监测 | 第36-38页 |
3.2.4 桶部TOF的刻度过程 | 第38-40页 |
3.2.5 端盖TOF的刻度过程 | 第40-41页 |
3.3 重建效率的检查 | 第41-45页 |
3.3.1 桶部TOF重建效率的检查 | 第42-44页 |
3.3.2 端盖TOF重建效率的检查 | 第44-45页 |
3.4 监测软件的特点 | 第45-47页 |
3.5 本章小结 | 第47-49页 |
第四章 TOF模拟的真实化 | 第49-60页 |
4.1 Dimu事例的挑选 | 第49-52页 |
4.1.1 挑选好的带电径迹 | 第49页 |
4.1.2 事例选择 | 第49-52页 |
4.2 闪烁体的衰减长度和相对增益 | 第52-55页 |
4.2.1 端盖闪烁体的衰减长度和相对增益 | 第52-53页 |
4.2.2 桶部闪烁体的衰减长度和相对增益 | 第53-54页 |
4.2.3 调试端盖和桶部的模拟系数 | 第54-55页 |
4.3 端盖TOF的噪声 | 第55-58页 |
4.3.1 端盖噪声的产生原因 | 第56页 |
4.3.2 端盖噪声的计算 | 第56-58页 |
4.4 模拟的真实化 | 第58-59页 |
4.5 本章小结 | 第59-60页 |
第五章 总结 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-63页 |
致谢 | 第63-64页 |
发表文章目录 | 第64页 |