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SCM公司测试车间变革与管理研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第10-14页
    1.1 研究的背景和意义第10-11页
    1.2 研究目标和内容第11-12页
    1.3 研究方法第12-13页
        1.3.1 文献研究法第12页
        1.3.2 访谈法第12页
        1.3.3 二手数据分析第12-13页
    1.4 本章小结第13-14页
第二章 组织变革文献探讨第14-23页
    2.1 组织变革概述第14-16页
        2.1.1 组织变革的定义第14-15页
        2.1.2 组织变革的趋势第15-16页
    2.2 组织变革的影响因素第16-19页
        2.2.1 外部因素第16-17页
        2.2.2 内部因素第17页
        2.2.3 管理者在组织变革中的作用第17-18页
        2.2.4 人力资源管理在组织变革中的作用第18-19页
    2.3 组织变革模型第19-21页
        2.3.1 库尔特·卢因的解冻-变革-再冻结模型第19-20页
        2.3.2 其它组织变革模型简述第20-21页
    2.4 组织变革的绩效评价第21-22页
    2.5 本章小结第22-23页
第三章 IC行业和SCM测试车间介绍第23-29页
    3.1 IC集成电路的发展和现状第23-25页
        3.1.1 摩尔定律和IC行业第23-24页
        3.1.2 半导体行业的商业模式和特点第24-25页
    3.2 SCM公司介绍第25-28页
        3.2.1 SCM公司的母公司M公司现状第25-27页
        3.2.2 SCM公司及其测试车间介绍第27-28页
    3.3 本章小结第28-29页
第四章 SCM公司测试车间的变革第29-42页
    4.1 SCM公司测试车间变革概述第29页
    4.2 SCM公司测试车间的人事变革第29-33页
        4.2.1 人事变革的情景分析第29-30页
        4.2.2 人事变革的解冻第30-31页
        4.2.3 人事变革的过程第31-32页
        4.2.4 人事变革变革的再冻结第32-33页
    4.3 SCM公司测试车间组织架构变革第33-36页
        4.3.1 组织架构变革的背景第33-34页
        4.3.2 组织架构变革的解冻第34页
        4.3.3 组织架构变革的过程第34-36页
        4.3.4 组织架构变革的再冻结第36页
    4.4 测试车间的管理信息变革第36-40页
        4.4.1 2013年以前测试车间管理信息的情况第36-37页
        4.4.2 测试车间信息管理变革的解冻第37-38页
        4.4.3 测试车间管理信息变革的过程第38-39页
        4.4.4 测试车间管理信息变革的再冻结第39-40页
    4.5 SCM测试车间变革总结第40-41页
    4.6 本章小结第41-42页
第五章 SCM公司测试车间变革的评价与展望第42-49页
    5.1 测试车间组织变革评估第42-46页
        5.1.1 测试车间设备和产能第42-43页
        5.1.2 基层管理者和员工对变革的认同第43-45页
        5.1.3 测试车间变革的问题第45-46页
    5.2 测试车间的持续变革展望第46-48页
        5.2.1 变革的环境第46页
        5.2.2 持续变革的目标第46-47页
        5.2.3 变革中领导者应该发挥的作用第47-48页
    5.3 本章小结第48-49页
第六章 研究结论第49-51页
    6.1 研究结论第49页
    6.2 不足之处第49-51页
致谢第51-52页
参考文献第52-54页

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