SCM公司测试车间变革与管理研究
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-14页 |
1.1 研究的背景和意义 | 第10-11页 |
1.2 研究目标和内容 | 第11-12页 |
1.3 研究方法 | 第12-13页 |
1.3.1 文献研究法 | 第12页 |
1.3.2 访谈法 | 第12页 |
1.3.3 二手数据分析 | 第12-13页 |
1.4 本章小结 | 第13-14页 |
第二章 组织变革文献探讨 | 第14-23页 |
2.1 组织变革概述 | 第14-16页 |
2.1.1 组织变革的定义 | 第14-15页 |
2.1.2 组织变革的趋势 | 第15-16页 |
2.2 组织变革的影响因素 | 第16-19页 |
2.2.1 外部因素 | 第16-17页 |
2.2.2 内部因素 | 第17页 |
2.2.3 管理者在组织变革中的作用 | 第17-18页 |
2.2.4 人力资源管理在组织变革中的作用 | 第18-19页 |
2.3 组织变革模型 | 第19-21页 |
2.3.1 库尔特·卢因的解冻-变革-再冻结模型 | 第19-20页 |
2.3.2 其它组织变革模型简述 | 第20-21页 |
2.4 组织变革的绩效评价 | 第21-22页 |
2.5 本章小结 | 第22-23页 |
第三章 IC行业和SCM测试车间介绍 | 第23-29页 |
3.1 IC集成电路的发展和现状 | 第23-25页 |
3.1.1 摩尔定律和IC行业 | 第23-24页 |
3.1.2 半导体行业的商业模式和特点 | 第24-25页 |
3.2 SCM公司介绍 | 第25-28页 |
3.2.1 SCM公司的母公司M公司现状 | 第25-27页 |
3.2.2 SCM公司及其测试车间介绍 | 第27-28页 |
3.3 本章小结 | 第28-29页 |
第四章 SCM公司测试车间的变革 | 第29-42页 |
4.1 SCM公司测试车间变革概述 | 第29页 |
4.2 SCM公司测试车间的人事变革 | 第29-33页 |
4.2.1 人事变革的情景分析 | 第29-30页 |
4.2.2 人事变革的解冻 | 第30-31页 |
4.2.3 人事变革的过程 | 第31-32页 |
4.2.4 人事变革变革的再冻结 | 第32-33页 |
4.3 SCM公司测试车间组织架构变革 | 第33-36页 |
4.3.1 组织架构变革的背景 | 第33-34页 |
4.3.2 组织架构变革的解冻 | 第34页 |
4.3.3 组织架构变革的过程 | 第34-36页 |
4.3.4 组织架构变革的再冻结 | 第36页 |
4.4 测试车间的管理信息变革 | 第36-40页 |
4.4.1 2013年以前测试车间管理信息的情况 | 第36-37页 |
4.4.2 测试车间信息管理变革的解冻 | 第37-38页 |
4.4.3 测试车间管理信息变革的过程 | 第38-39页 |
4.4.4 测试车间管理信息变革的再冻结 | 第39-40页 |
4.5 SCM测试车间变革总结 | 第40-41页 |
4.6 本章小结 | 第41-42页 |
第五章 SCM公司测试车间变革的评价与展望 | 第42-49页 |
5.1 测试车间组织变革评估 | 第42-46页 |
5.1.1 测试车间设备和产能 | 第42-43页 |
5.1.2 基层管理者和员工对变革的认同 | 第43-45页 |
5.1.3 测试车间变革的问题 | 第45-46页 |
5.2 测试车间的持续变革展望 | 第46-48页 |
5.2.1 变革的环境 | 第46页 |
5.2.2 持续变革的目标 | 第46-47页 |
5.2.3 变革中领导者应该发挥的作用 | 第47-48页 |
5.3 本章小结 | 第48-49页 |
第六章 研究结论 | 第49-51页 |
6.1 研究结论 | 第49页 |
6.2 不足之处 | 第49-51页 |
致谢 | 第51-52页 |
参考文献 | 第52-54页 |