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多路外差光栅干涉信号相位测量方法研究

摘要第9-10页
ABSTRACT第10-11页
第一章 绪论第12-19页
    1.1 研究背景及意义第12-13页
        1.1.1 外差光栅测量的意义第12页
        1.1.2 多路相位差测量的重要性第12-13页
    1.2 相位测量研究现状第13-17页
        1.2.1 相位测量方法简介第13-16页
        1.2.2 国内外研究现状第16-17页
    1.3 本文的主要研究工作与内容安排第17-19页
第二章 光路原理及相位测量系统总体设计第19-25页
    2.1 双波长二维光栅平面位移测量原理第19-22页
    2.2 相位测量系统设计第22-24页
        2.2.1 系统总体设计第22-23页
        2.2.2 前端电子学设计第23页
        2.2.3 模拟电路设计第23-24页
        2.2.4 数字电路及上位机显示设计第24页
    2.3 本章小结第24-25页
第三章 模拟信号调理电路设计第25-38页
    3.1 光电探测器第25-26页
    3.2 电源电路模块第26-29页
    3.3 放大电路设计第29-33页
        3.3.1 光电检测转换电路第29-31页
        3.3.2 主放大电路第31-32页
        3.3.3 前端电子学整体结构第32-33页
    3.4 信号混频整形电路设计第33-37页
        3.4.1 混频降频模块第33-35页
        3.4.2 信号整形模块第35-37页
    3.5 本章小结第37-38页
第四章 数字信号相位测量及显示模块设计第38-50页
    4.1 FPGA概述第38-40页
        4.1.1 FPGA简介第38-40页
        4.1.2 开发工具及Verilog HDL第40页
    4.2 FPGA电路系统设计第40-45页
        4.2.1 FPGA供电电源电路第41-42页
        4.2.2 FPGA配置模式设计第42-44页
        4.2.3 串口通信第44-45页
    4.3 多路信号相位同步测量方法第45-47页
        4.3.1 整小数结合的相位测量方法第45-46页
        4.3.2 多路同步相位测量方法第46-47页
    4.4 上位机显示界面设计第47-49页
    4.5 本章小结第49-50页
第五章 多路信号相位测量系统性能测试实验第50-62页
    5.1 系统性能测试方法第50-51页
    5.2 性能测试辅助设备介绍第51-52页
    5.3 前端电子学测试实验第52-53页
    5.4 模拟电路性能测试第53-54页
    5.5 数字电路性能测试第54-57页
        5.5.1 分辨率测试实验第55-56页
        5.5.2 同步性测试实验第56-57页
    5.6 系统整体性能测试及误差分析第57-61页
        5.6.1 系统整体性能测试第57-60页
        5.6.2 误差分析第60-61页
    5.7 本章小结第61-62页
第六章 总结与展望第62-65页
    6.1 全文工作总结第62-63页
    6.2 研究展望第63-65页
致谢第65-66页
参考文献第66-71页
作者在学期间取得的学术成果第71页

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