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基于电流转移方式的真空断路器并联开断控制方法研究

摘要第5-6页
Abstract第6页
第一章 绪论第9-14页
    1.1 真空开关的发展及现状第9-11页
    1.2 大容量真空开关的应用及发展趋势第11-12页
    1.3 并联相控断路器的关键技术第12-13页
    1.4 课题来源及本文研究主要内容第13-14页
第二章 并联多断.真空断路器结构分析第14-24页
    2.1 并联多断.真空开关基本结构第14-18页
        2.1.1 双灭弧室并联结构第15-16页
        2.1.2 三灭弧室并联结构第16-18页
    2.2 动热稳定性分析第18-23页
        2.2.1 双断.结构仿真计算及结果分析第18-20页
        2.2.2 三断.结构仿真计算及结果分析第20-23页
    2.3 结构布局对电流转移过程的影响第23页
    本章小结第23-24页
第三章 实验测试与分析第24-39页
    3.1 实验平台搭建第24-28页
        3.1.1 实验系统合成回路第24-25页
        3.1.2 实验结构第25-28页
    3.2 电流测试实验第28-30页
        3.2.1 罗氏线圈工作原理第28-29页
        3.2.2 积分测量电路第29-30页
        3.2.3 罗氏线圈校正第30页
    3.3 分合闸时间测试实验第30-33页
        3.3.1 分合闸实验原理第30-32页
        3.3.2 分合闸时间测试结果第32-33页
    3.4 电流转移实验第33-38页
        3.4.1 电流转移实验原理第33-34页
        3.4.2 电流转移实验结果第34-38页
    本章小结第38-39页
第四章 电流转移过程及影响因素分析第39-57页
    4.1 异步开断的电流转移变化模型第39-43页
        4.1.1 并联双断.电路模型分析第39-40页
        4.1.2 并联三断.电路模型分析第40-43页
    4.2 无穷大系统故障源的电流转移数学模型第43-45页
        4.2.1 并联双断.结构电流转移方程第43页
        4.2.2 并联三断.结构电流转移方程第43-45页
    4.3 电流转移时间仿真第45-53页
        4.3.1 调试界面第45-47页
        4.3.2 不同结构对电流转移时间的影响第47-48页
        4.3.3 并联双断.结构电流转移仿真结果第48-50页
        4.3.4 并联三断.结构电流转移仿真结果第50-51页
        4.3.5 电流转移时间影响因素分析第51-53页
    4.4 电流转移模型优化第53-56页
        4.4.1 真空电弧电阻数学建模第53-55页
        4.4.2 电流转移模型修正第55-56页
    本章小结第56-57页
第五章 相控方案设计第57-67页
    5.1 相控开断的工作原理和基本要求第57-59页
        5.1.1 相控技术的基本原理第57-58页
        5.1.2 相控分闸的基本要求第58-59页
    5.2 并联双断.结构相控方案设计第59-63页
        5.2.1 相控开断方案第59-62页
        5.2.2 控制流程图第62-63页
    5.3 并联三断.结构相控方案设计第63-64页
    5.4 并联双断.结构相控方案试验验证第64-66页
    本章小节第66-67页
结论第67-68页
参考文献第68-70页
附录A BD-12/1250-20断路器用玻璃真空灭弧室参数第70-71页
附录B 实验系统第71-72页
攻读硕士学位期间发表的学术论文第72-73页
致谢第73-74页

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