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基于LTE的快速非信令综合测试的方法与实现

摘要第4-5页
ABSTRACT第5页
第一章 绪论第8-11页
    1.1 论文背景第8-9页
    1.2 可配序列的快速非信令综合测试第9页
    1.3 论文研究内容和安排第9-10页
    1.4 本章小结第10-11页
第二章 可配序列的快速非信令综合测试的平台概述第11-14页
    2.1 LTE系统模拟平台的硬件组成第11-13页
        2.1.1 硬件架构第11-12页
        2.1.2 DSP芯片应用概述第12-13页
    2.2 软件编程环境第13页
    2.3 本章小结第13-14页
第三章 可配序列的快速非信令综合测试流程设计第14-22页
    3.1 整体流程设计第14-16页
    3.2 序列切换模块第16-19页
        3.2.1 序列切换模块的软件实现第16-18页
        3.2.2 序列切换模块的硬件实现第18-19页
    3.3 序列原语解析模块第19-21页
    3.4 本章小结第21-22页
第四章 可配序列快速非信令综合测试的下行链路实现第22-39页
    4.1 下行链路中调度的物理层信道第22-29页
        4.1.1 物理广播信道——PBCH第22-23页
        4.1.2 利用PBCH及相关信道实现下行同步过程的原理第23-25页
        4.1.3 物理层下行控制信PDCCH第25-26页
        4.1.4 物理下行控制信道中多个PDCCH的资源分配第26-27页
        4.1.5 物理层下行共享信道——PDSCH第27-29页
    4.2 物理层各信道对应的接口设计第29-32页
    4.3 非信令测试的下行同步特点第32-33页
        4.3.1 下行与上行同步的特殊需求第33页
    4.4 下行链路的各信道调度第33-34页
    4.5 下行链路的检测第34-38页
        4.5.1 单序列的下行链路测试情况第35-36页
        4.5.2 多序列快速非信令综合测试的结果第36-38页
    4.6 本章小结第38-39页
第五章 可配序列快速非信令综合测试的上行链路实现第39-50页
    5.1 终端上行同步的捕捉第39-44页
        5.1.1 噪底检测第39-40页
        5.1.2 门限值计算第40页
        5.1.3 边沿检测第40-44页
        5.1.4 子帧号确认第44页
    5.2 非信令测试的上行链路的数据收集与上报第44-46页
        5.2.1 数据的收集和上报方式第45页
        5.2.2 上行链路数据或者功率上报时机第45-46页
    5.3 中途停止流程第46页
    5.4 上行链路的测试结果第46-49页
    5.5 本章小结第49-50页
第六章 总结与展望第50-52页
    6.1 论文工作总结第50-51页
    6.2 未来展望第51-52页
参考文献第52-54页
致谢第54页

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