相控阵超声检测可靠性与POD数值模拟初探
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 研究背景 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-17页 |
| 1.2.1 无损检测可靠性的国外研究现状 | 第10-15页 |
| 1.2.2 无损检测可靠性的国内研究现状 | 第15-17页 |
| 1.3 本文主要内容 | 第17-19页 |
| 2 无损检测可靠性的理论基础 | 第19-29页 |
| 2.1 无损检测可靠性的基本概念 | 第19页 |
| 2.2 无损检测可靠性的常用特征量 | 第19-24页 |
| 2.2.1 检出率POD和误报率PFA | 第19-21页 |
| 2.2.2 定量准确率POS | 第21-22页 |
| 2.2.3 受训者工作特征ROC | 第22-24页 |
| 2.3 POD计算方法和原理 | 第24-28页 |
| 2.3.1 常用计算方法 | 第24页 |
| 2.3.2 POD的计算原理及模型 | 第24-27页 |
| 2.3.3 POD曲线的特点 | 第27-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 3 相控阵超声及其可靠性的实验和模拟研究 | 第29-41页 |
| 3.1 相控阵超声技术概述 | 第29-34页 |
| 3.1.1 相控阵超声技术的优势 | 第29-30页 |
| 3.1.2 相控阵超声的扫描方式及图像显示 | 第30-32页 |
| 3.1.3 相控阵探头 | 第32-34页 |
| 3.2 实验与模拟研究 | 第34-40页 |
| 3.2.1 实验设备及探头参数 | 第34-35页 |
| 3.2.2 CIVA软件及模拟方法 | 第35-37页 |
| 3.2.3 POD曲线的实验和模拟计算 | 第37-40页 |
| 3.3 本章小结 | 第40-41页 |
| 4 探头参数对检测可靠性的影响 | 第41-49页 |
| 4.1 探头频率的影响 | 第41-45页 |
| 4.1.1 不同频率探头的POD曲线 | 第41-42页 |
| 4.1.2 不同频率探头的POS曲线 | 第42-45页 |
| 4.2 阵元尺寸的影响 | 第45-48页 |
| 4.2.1 不同阵元尺寸探头的POD曲线 | 第45-46页 |
| 4.2.2 不同阵元尺寸探头的POS曲线 | 第46-48页 |
| 4.3 本章小结 | 第48-49页 |
| 5 被检材料对检测可靠性的影响 | 第49-54页 |
| 5.1 衰减系数对POD影响的研究 | 第49-51页 |
| 5.1.1 衰减系数的定义 | 第49-50页 |
| 5.1.2 衰减系数对POD的影响 | 第50-51页 |
| 5.2 结构噪声对POD影响的研究 | 第51-53页 |
| 5.2.1 结构噪声的定义 | 第51-52页 |
| 5.2.2 结构噪声对POD的影响 | 第52-53页 |
| 5.3 本章小结 | 第53-54页 |
| 6 缺陷特征对检测可靠性的影响 | 第54-62页 |
| 6.1 缺陷形状的影响 | 第54-57页 |
| 6.1.1 不同形状缺陷的回波特征 | 第54-56页 |
| 6.1.2 不同形状缺陷的POD曲线 | 第56-57页 |
| 6.2 缺陷取向的影响 | 第57-61页 |
| 6.2.1 缺陷回波幅值与取向的关系 | 第57-59页 |
| 6.2.2 不同取向缺陷的POD曲线 | 第59-61页 |
| 6.3 本章小结 | 第61-62页 |
| 结论 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
