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微波腔体耦合器内表面溅射金属化研究

致谢第4-6页
摘要第6-7页
Abstract第7-8页
目录第9-12页
1 绪论第12-26页
    1.1 研究背景第12-14页
        1.1.1 通信技术发展史第12-14页
    1.2 室内覆盖分布系统第14-19页
        1.2.1 室内覆盖分布系统概述第14-15页
        1.2.2 室内覆盖分布系统结构第15-16页
        1.2.3 系统工程器件介绍第16-19页
    1.3 微波定向耦合器介绍第19-22页
        1.3.1 微波定向耦合器第19-21页
        1.3.2 耦合器功能区金属化的必要性第21-22页
    1.4 金属化研究现状第22-24页
        1.4.1 现有金属化研究方法第22-23页
        1.4.2 存在的问题第23-24页
    1.5 本文的研究意义和章节安排第24-26页
        1.5.1 研究意义第24页
        1.5.2 章节安排第24-26页
2. 微波腔体耦合器概述第26-41页
    2.1 引言第26页
    2.2 微波腔体耦合器背景第26-27页
    2.3 微波腔体耦合器工作原理第27-38页
        2.3.1 单节平行耦合传输线定向耦合器第28-34页
        2.3.2 基于单节的非对称多节定向耦合器第34-38页
    2.4 主要技术指标第38-40页
    2.5 本章小结第40-41页
3 腔体耦合器内壁金属化膜层设计和仿真第41-52页
    3.1 引言第41页
    3.2 室内覆盖分布系统腔体耦合器内壁膜层设计第41-46页
        3.2.1 室内覆盖分布系统中腔体耦合器概述第41-42页
        3.2.2 腔体耦合器的选择及其内镀层设计第42-46页
    3.3 仿真实现第46-51页
        3.3.1 HFSS软件简介第46页
        3.3.2 仿真模型建立第46-47页
        3.3.3 Cu/Ag复合膜仿真与分析第47-51页
    3.4 本章小结第51-52页
4 耦合腔内壁金属层制备与工艺实现第52-60页
    4.1 引言第52页
    4.2 耦合腔内壁金属化的工艺实现第52-56页
        4.2.1 溅射及放电体系介绍第52-53页
        4.2.2 磁控溅射原理及特点第53-54页
        4.2.3 主要设备与样品材料第54-56页
    4.3 耦合器内壁金属化制备步骤第56-59页
        4.3.1 预处理工艺第56页
        4.3.2 复合膜制备第56-59页
    4.4 本章小结第59-60页
5 耦合腔金属化样品的测试结果及分析第60-70页
    5.1 引言第60页
    5.2 测试方法及结果第60-69页
        5.2.1 膜层结合力测试第60-63页
        5.2.2 膜层电性能测试第63-69页
    5.3 本章小结第69-70页
6 总结与展望第70-72页
参考文献第72-76页
作者简介及在学期间取得的科研成果第76页

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