| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第11-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-23页 |
| 1.1 研究背景 | 第15-16页 |
| 1.2 晶体振荡器简介 | 第16-19页 |
| 1.2.1 晶振分类 | 第16-17页 |
| 1.2.2 国内外的发展现状 | 第17-18页 |
| 1.2.3 晶体振荡器的未来发展趋势 | 第18-19页 |
| 1.3 晶体振荡器的主要参数 | 第19-20页 |
| 1.4 论文的成果及内容安排 | 第20-21页 |
| 1.5 小结 | 第21-23页 |
| 第二章 晶体谐振器的基本特性 | 第23-33页 |
| 2.1 晶振基本工作原理 | 第23-26页 |
| 2.2 晶体谐振器常用切型 | 第26-31页 |
| 2.2.1 AT切晶体谐振器 | 第26-29页 |
| 2.2.2 SC切晶体谐振器 | 第29-31页 |
| 2.3 影响晶体谐振器频率的主要因素 | 第31-32页 |
| 2.4 小结 | 第32-33页 |
| 第三章 晶体振荡器的老化特性研究及其补偿 | 第33-41页 |
| 3.1 晶体振荡器老化机理分析 | 第33-34页 |
| 3.2 晶体振荡器的老化漂移表征 | 第34-36页 |
| 3.3 恒温晶体振荡器老化补偿方案 | 第36-40页 |
| 3.3.1 晶振老化补偿方案 | 第36-39页 |
| 3.3.2 补偿结果分析 | 第39-40页 |
| 3.4 小结 | 第40-41页 |
| 第四章 恒温晶体振荡器的相位噪声研究 | 第41-57页 |
| 4.1 相位噪声的产生 | 第41页 |
| 4.2 晶体谐振器的Q值对振荡器性能影响的分析 | 第41-45页 |
| 4.2.1 RLC串联谐振电路分析 | 第42-44页 |
| 4.2.2 RLC并联谐振电路分析 | 第44-45页 |
| 4.3 振荡器相位噪声的分析 | 第45-49页 |
| 4.3.1 电噪声 | 第45-46页 |
| 4.3.2 放大器噪声 | 第46-48页 |
| 4.3.3 谐振电路噪声 | 第48-49页 |
| 4.4 低相噪恒温晶体振荡器电路设计 | 第49-55页 |
| 4.4.1 温度控制电路设计 | 第49-52页 |
| 4.4.2 振荡电路设计 | 第52-55页 |
| 4.5 小结 | 第55-57页 |
| 第五章 晶体振荡器中的边沿效应 | 第57-65页 |
| 5.1 边沿效应简介 | 第57-58页 |
| 5.1.1 边沿效应概述 | 第57页 |
| 5.1.2 边沿效应原理 | 第57-58页 |
| 5.2 晶振中的边沿效应概述 | 第58-59页 |
| 5.3 边沿效应在晶振中的应用及方案 | 第59-64页 |
| 5.3.1 边沿效应在晶体振荡器中的应用 | 第59-61页 |
| 5.3.2 边沿效应在晶振中的应用方案及实验数据分析 | 第61-64页 |
| 5.4 小结 | 第64-65页 |
| 第六章 结论和展望 | 第65-67页 |
| 6.1 研究结论 | 第65-66页 |
| 6.2 研究展望 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 致谢 | 第71-73页 |
| 作者简介 | 第73页 |