摘要 | 第3-5页 |
Abstract | 第5-7页 |
1 绪论 | 第11-25页 |
1.1 纳滤膜 | 第11-14页 |
1.1.1 纳滤膜水处理技术概述 | 第11页 |
1.1.2 纳滤膜的分离机理 | 第11-12页 |
1.1.3 纳滤膜的制备方法 | 第12-13页 |
1.1.4 纳滤膜的应用 | 第13-14页 |
1.2 聚酰胺复合纳滤膜 | 第14-16页 |
1.2.1 聚酰胺复合纳滤膜概述 | 第14-15页 |
1.2.2 聚酰胺复合纳滤膜研究现状 | 第15-16页 |
1.3 纳滤膜污染 | 第16-21页 |
1.3.1 纳滤膜污染途径 | 第16-17页 |
1.3.2 纳滤膜污染防治措施 | 第17页 |
1.3.3 纳滤膜污染的研究动态 | 第17-21页 |
1.4 研究目的和内容 | 第21-23页 |
1.5 技术路线 | 第23-25页 |
2 实验材料及研究方法 | 第25-33页 |
2.1 纳滤膜性能的评价与表征 | 第25-28页 |
2.1.1 纳滤膜基膜的纯水通量测定方法 | 第25-26页 |
2.1.2 纳滤膜通量和脱盐率的表征方法 | 第26-27页 |
2.1.3 纳滤膜表面接触角的测定 | 第27页 |
2.1.4 纳滤膜微观结构的表征方法 | 第27页 |
2.1.5 纳滤膜微观表面形貌的表征方法 | 第27页 |
2.1.6 纳滤膜表面元素含量测定 | 第27-28页 |
2.1.7 纳滤膜表面聚合物特性表征 | 第28页 |
2.2 纳滤膜有机污染实验 | 第28-29页 |
2.3 纳滤膜硫酸钙结垢实验 | 第29-30页 |
2.4 AFM硫酸钙探针制备及黏附力测定 | 第30页 |
2.4.1 硫酸钙探针的制备 | 第30页 |
2.4.2 粘附力的测定 | 第30页 |
2.5 QCM-D金芯片涂覆及测试方法 | 第30-33页 |
2.5.1 QCM-D金芯片的涂覆 | 第30-31页 |
2.5.2 QCM-D测试方法 | 第31-33页 |
3 聚酰胺复合纳滤膜的制备及表征 | 第33-41页 |
提要 | 第33页 |
3.1 聚酰胺复合纳滤膜的制备 | 第33-34页 |
3.1.1 聚砜超滤膜的制备 | 第33-34页 |
3.1.2 复合纳滤膜的制备 | 第34页 |
3.2 纳滤膜性能表征 | 第34-38页 |
3.2.1 纳滤膜基本性能 | 第34-35页 |
3.2.2 纳滤膜断面微观结构 | 第35页 |
3.2.3 纳滤膜表面形貌 | 第35-37页 |
3.2.4 纳滤膜表面元素分析 | 第37页 |
3.2.5 纳滤膜红外特征吸收峰 | 第37-38页 |
3.3 本章小结 | 第38-41页 |
4 有机物及硫酸钙结垢对聚酰胺复合纳滤膜的污染 | 第41-45页 |
提要 | 第41页 |
4.1 有机污染实验 | 第41-42页 |
4.2 硫酸钙结垢污染实验 | 第42-43页 |
4.3 反冲洗实验 | 第43页 |
4.4 本章小结 | 第43-45页 |
5 有机污染层对复合纳滤膜硫酸钙结垢影响的机理研究 | 第45-55页 |
提要 | 第45页 |
5.1 有机污染膜的膜面硫酸钙结垢层形态 | 第45-47页 |
5.2 AFM粘附力测定及硫酸钙结垢形成机理 | 第47-49页 |
5.3 污染过程微观模拟及有机物对硫酸钙结垢的影响 | 第49-53页 |
5.3.1 镀膜金芯片表面元素含量及形貌 | 第49-51页 |
5.3.2 污染过程微观模拟 | 第51-53页 |
5.3.3 有机污染层对硫酸钙结垢影响的机理 | 第53页 |
5.4 本章小结 | 第53-55页 |
6 结论与展望 | 第55-59页 |
6.1 结论 | 第55-57页 |
6.2 展望 | 第57-59页 |
致谢 | 第59-61页 |
参考文献 | 第61-69页 |
附录 攻读硕士期间的科研成果 | 第69页 |