| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 1 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 研究背景 | 第9页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第9-11页 |
| 1.2.1 国外现状 | 第9-10页 |
| 1.2.2 国内现状 | 第10页 |
| 1.2.3 国内外现状比较 | 第10-11页 |
| 1.3 课题来源及课题主要工作 | 第11页 |
| 1.4 本论文的主要工作及内容 | 第11-13页 |
| 2 多光谱成像光谱仪相对光谱功率响应度测量原理 | 第13-21页 |
| 2.1 光栅式成像光谱仪光谱功率响应度测量原理 | 第14-17页 |
| 2.2 傅立叶干涉式成像光谱仪光谱功率响应度测量原理 | 第17-18页 |
| 2.3 渐变滤光片型成像光谱仪光谱功率响应度测量原理 | 第18-20页 |
| 2.4 本章小节 | 第20-21页 |
| 3 多光谱成像光谱仪相对光谱功率响应度校准方法 | 第21-28页 |
| 3.1 可见到近红外成像光谱仪光谱功率响应度校准方法研究 | 第21-25页 |
| 3.1.1 采用标准光源直接对成像光谱仪进行校准 | 第21-23页 |
| 3.1.2 由分光系统提供需要的波段进行校准 | 第23-25页 |
| 3.2 红外成像光谱仪光谱功率响应度校准方法研究 | 第25-26页 |
| 3.3 可见到远红外分光技术的研究 | 第26-27页 |
| 3.4 本章小节 | 第27-28页 |
| 4 多光谱成像光谱仪相对光谱功率响应度测试装置的研究 | 第28-37页 |
| 4.1 可见、近红外成像光谱仪相对光谱功率响应度测试装置组成 | 第29-31页 |
| 4.2 红外成像光谱仪相对光谱功率响应度测试装置组成 | 第31-33页 |
| 4.3 成像光谱仪相对光谱功率响应度测试装置中关键设备设计 | 第33-36页 |
| 4.4 本章小节 | 第36-37页 |
| 5 成像光谱仪相对光谱功率响应度量值溯源和传递方法研究 | 第37-40页 |
| 5.1 成像光谱仪相对光谱功率响应度溯源方法 | 第37-38页 |
| 5.1.1 以光源为基础对成像光谱仪光谱功率响应度校准研究 | 第37页 |
| 5.1.2 以探测器为基础对成像光谱仪光谱功率响应度校准方法研究 | 第37-38页 |
| 5.2 成像光谱仪相对光谱功率响应度量值传递方法 | 第38页 |
| 5.2.1 从单元探测器向面元阵列探测器量值传递方法研究 | 第38页 |
| 5.3 本章小节 | 第38-40页 |
| 6 光学实验 | 第40-49页 |
| 6.1 测试环境及条件 | 第40页 |
| 6.2 可见光光谱功率响应度实验 | 第40-46页 |
| 6.3 红外光谱功率响应度实验 | 第46-48页 |
| 6.4 本章小节 | 第48-49页 |
| 7 测量不确定度分析 | 第49-57页 |
| 7.1 可见光近红外光成像光谱仪相对光谱功率响应度测量不确定度分析 | 第50-53页 |
| 7.1.1 A类不确定度评定 | 第50-51页 |
| 7.1.2 B类不确定度评定 | 第51-52页 |
| 7.1.3 合成标准不确定度 | 第52页 |
| 7.1.4 扩展不确定度 | 第52-53页 |
| 7.2 红外成像光谱仪相对光谱功率响应度测量结果不确定度分析 | 第53-56页 |
| 7.2.1 A类不确定度评定 | 第53-54页 |
| 7.2.2 B类不确定度评定 | 第54-55页 |
| 7.2.3 合成标准不确定度 | 第55页 |
| 7.2.4 扩展不确定度 | 第55-56页 |
| 7.3 本章小节 | 第56-57页 |
| 8 结论 | 第57-58页 |
| 8.1 论文工作总结 | 第57页 |
| 8.2 下一步工作展望 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-62页 |
