摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
第一章 绪论 | 第8-19页 |
1.1 引言 | 第8页 |
1.2 染料敏化太阳电池(DSC) | 第8-10页 |
1.2.1 DSC概述 | 第8-9页 |
1.2.2 DSC工作原理 | 第9-10页 |
1.3 DSC内部复合机理研究 | 第10-17页 |
1.3.1 Dyed-TiO_2/EL界面电子复合过程 | 第11-13页 |
1.3.2 TCO/EL界面电子复合过程 | 第13-14页 |
1.3.3 DSC电子复合动力学研究 | 第14-17页 |
1.4 主要研究内容与创新点 | 第17-19页 |
第二章 DSC中界面多源复合模型构建 | 第19-27页 |
2.1 引言 | 第19页 |
2.2 界面等效电路与电子复合理论 | 第19-20页 |
2.2.1 DSC界面复合等效电路理论 | 第19-20页 |
2.2.2 Marcus电子转移理论 | 第20页 |
2.2.3 Buttler-Volmer理论 | 第20页 |
2.3 界面电子复合源 | 第20-23页 |
2.3.1 Dyed-TiO_2/EL界面-导带态复合源 | 第20-21页 |
2.3.2 Dyed-TiO_2/EL界面-指数分布表面态复合源 | 第21-22页 |
2.3.3 Dyed-TiO_2/EL/EL界面-单能级表面态复合源 | 第22-23页 |
2.3.4 TCO/EL界面复合源 | 第23页 |
2.4 界面多源复合模型构建 | 第23-25页 |
2.4.1 单界面多源复合模型 | 第23-24页 |
2.4.2 双界面多源复合模型 | 第24页 |
2.4.3 参数选定 | 第24-25页 |
2.5 本章小结 | 第25-27页 |
第三章 单界面多源电子复合研究 | 第27-39页 |
3.1 引言 | 第27页 |
3.2 单界面多源复合模型电子寿命研究 | 第27-29页 |
3.3 有效态密度(N)对电子寿命的影响研究 | 第29-32页 |
3.3.1 导带态复合源有效态密度N_(cb)电子寿命的影响研究 | 第29页 |
3.3.2 指数分布表面态复合源有效态密度N_(exp)对电子寿命的影响研究 | 第29-31页 |
3.3.3 单能级表面态复合源有效态密度N_(me)对电子寿命的影响研究 | 第31-32页 |
3.4 电子转移速率(k)对电子寿命的影响研究 | 第32-35页 |
3.4.1 导带态复合源电子转移速率k_(et,max)~(cb)对电子寿命的影响研究 | 第32-33页 |
3.4.2 指数分布表面态复合源电子转移速率k_(et,max)~(exp)对电子寿命的影响研究 | 第33-34页 |
3.4.3 单能级表面态复合源电子转移速率k_(et,max)~(me)对电子寿命的影响研究 | 第34-35页 |
3.5 电解质重组能λ对电子寿命的影响研究 | 第35-38页 |
3.6 本章小结 | 第38-39页 |
第四章 双界面多源电子复合研究——Dyed-TiO_2/EL界面影响 | 第39-51页 |
4.1 引言 | 第39页 |
4.2 双界面多源复合模型电子寿命研究 | 第39-40页 |
4.3 有效态密度(N)对电子寿命的影响研究 | 第40-43页 |
4.3.1 导带态复合源有效态密度N_(cb)对电子寿命的影响研究 | 第40-41页 |
4.3.2 指数分布表面态复合源有效态密度N_(exp)对电子寿命的影响研究 | 第41-42页 |
4.3.3 单能级表面态复合源有效态密度N_(me)对电子寿命的影响研究 | 第42-43页 |
4.4 电子转移速率(k)对电子寿命的影响研究 | 第43-47页 |
4.4.1 导带态复合源电子转移速率k_(et,max)~(cb)对电子寿命的影响研究 | 第43-44页 |
4.4.2 指数分布表面态电子转移速率k_(et,max)~(exp)对电子寿命的影响研究 | 第44-46页 |
4.4.3 单能级表面态电子转移速率k_(et,max)~(me)对电子寿命的影响研究 | 第46-47页 |
4.5 薄膜微结构对电子寿命的影响研究 | 第47-49页 |
4.5.1 TiO_2半导体薄膜厚度L对电子寿命的影响研究 | 第47-48页 |
4.5.2 孔隙率Por对电子寿命的影响研究 | 第48-49页 |
4.5.3 覆盖率β对电子寿命的影响研究 | 第49页 |
4.6 本章小结 | 第49-51页 |
第五章 双界面多源电子复合研究——TCO/EL界面影响 | 第51-64页 |
5.1 引言 | 第51页 |
5.2 TCO/EL界面对电子寿命的影响研究 | 第51-53页 |
5.3 有效态密度改变时TCO/EL界面对电子寿命的影响研究 | 第53-59页 |
5.3.1 N_(cb)改变时TCO/EL界面对电子寿命的影响研究 | 第53-55页 |
5.3.2 N_(exp)改变时TCO/EL界面对电子寿命的影响研究 | 第55-57页 |
5.3.3 N_(me)改变时TCO/EL界面对电子寿命的影响研究 | 第57-59页 |
5.4 电子转移速率改变时TCO/EL界面对电子寿命的影响研究 | 第59-63页 |
5.4.1 k_(et,max)~(cb)改变时TCO/EL界面对电子寿命的影响研究 | 第59-60页 |
5.4.2 k_(et,max)~(exp)改变时TCO/EL界面对电子寿命的影响研究 | 第60-61页 |
5.4.3 k_(et,max)~(me)改变时TCO/EL界面对电子寿命的影响研究 | 第61-63页 |
5.5 本章小结 | 第63-64页 |
第六章 总结与展望 | 第64-66页 |
6.1 总结 | 第64页 |
6.2 全文展望 | 第64-66页 |
参考文献 | 第66-72页 |
致谢 | 第72-73页 |
攻读硕士学位期间发表成果 | 第73-74页 |