| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 引言 | 第11-14页 |
| 1.1.1 研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.1.2 COG技术原理 | 第12-14页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第14-15页 |
| 1.3 本文研究的内容及创新点 | 第15-16页 |
| 1.4 本文的结构安排 | 第16-17页 |
| 第二章 检测系统设计 | 第17-31页 |
| 2.1 检测系统总体结构 | 第17-19页 |
| 2.2 图像采集模块 | 第19-23页 |
| 2.2.1 光源选型 | 第20页 |
| 2.2.2 相机选型 | 第20-22页 |
| 2.2.3 光路设计 | 第22-23页 |
| 2.3 软件交互模块 | 第23-29页 |
| 2.3.1 图形界面QT简述 | 第23-24页 |
| 2.3.2 建立标准档 | 第24-28页 |
| 2.3.3 实时检测 | 第28-29页 |
| 2.4 检测算法流程 | 第29-30页 |
| 2.5 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 导电粒子区域提取 | 第31-50页 |
| 3.1 导电粒子区域提取流程 | 第31-32页 |
| 3.2 彩色图转灰度图 | 第32-33页 |
| 3.3 基于模板匹配算法的图像定位 | 第33-37页 |
| 3.3.1 模板匹配算法 | 第33-34页 |
| 3.3.2 模板匹配算法的改进 | 第34-35页 |
| 3.3.3 模板图像坐标的获取 | 第35-37页 |
| 3.4 引脚分割 | 第37-39页 |
| 3.5 导电粒子区域分割 | 第39-42页 |
| 3.5.1 基于二值化分割导电粒子区域 | 第40-41页 |
| 3.5.2 基于图像均方差分割导电粒子区域 | 第41-42页 |
| 3.6 删除上下边缘 | 第42-43页 |
| 3.7 图像去噪 | 第43-47页 |
| 3.7.1 均值滤波 | 第45页 |
| 3.7.2 中值滤波 | 第45页 |
| 3.7.3 高斯滤波 | 第45-46页 |
| 3.7.4 图像去噪结果分析 | 第46-47页 |
| 3.8 图像光照不均校正 | 第47-49页 |
| 3.9 本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 导电粒子检测 | 第50-66页 |
| 4.1 导电粒子提取 | 第50-58页 |
| 4.1.1 基于二值化的导电粒子检测算法 | 第51页 |
| 4.1.2 基于模板匹配的导电粒子检测算法 | 第51-53页 |
| 4.1.3 基于光照方向极值差值的导电粒子检测算法 | 第53-55页 |
| 4.1.4 基于光照方向局部均值差值的导电粒子检测算法 | 第55-57页 |
| 4.1.5 导电粒子提取结果分析 | 第57-58页 |
| 4.2 连通区域标记 | 第58-61页 |
| 4.3 连通区域的面积计算和去噪 | 第61-62页 |
| 4.4 导电粒子个数和位置的计算 | 第62-64页 |
| 4.5 导电粒子检测算法流程 | 第64-65页 |
| 4.6 本章小结 | 第65-66页 |
| 第五章 导电粒子绑定区域偏移计算 | 第66-79页 |
| 5.1 偏移特征分析 | 第66-68页 |
| 5.2 偏移计算算法 | 第68-74页 |
| 5.2.1 单个导电粒子区域 | 第68-71页 |
| 5.2.2 多个导电粒子区域 | 第71-72页 |
| 5.2.3 偏移计算算法流程 | 第72-74页 |
| 5.3 算法的加速 | 第74-77页 |
| 5.3.1 线程池原理 | 第75-77页 |
| 5.3.2 算法加速结果 | 第77页 |
| 5.4 本章小结 | 第77-79页 |
| 第六章 实验结果及分析 | 第79-88页 |
| 6.1 实验结果 | 第79-86页 |
| 6.1.1 单张图结果 | 第79-84页 |
| 6.1.2 批量测试结果 | 第84-86页 |
| 6.2 结果分析 | 第86-88页 |
| 第七章 总结及展望 | 第88-90页 |
| 7.1 论文总结 | 第88页 |
| 7.2 工作展望 | 第88-90页 |
| 致谢 | 第90-91页 |
| 参考文献 | 第91-95页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第95-96页 |