X射线视觉检测系统优化设计及采样步长确定机制研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| ·课题的研究背景和意义 | 第9-10页 |
| ·国内外关于本课题的研究现状 | 第10-13页 |
| ·机器视觉检测技术的研究状况 | 第10-11页 |
| ·X射线数字化成像技术的发展现状 | 第11-12页 |
| ·数据采集技术的发展状况 | 第12-13页 |
| ·本文研究内容与论文结构安排 | 第13-15页 |
| 第2章X射线立体视觉检测系统的优化设计 | 第15-37页 |
| ·X射线检测的物理基础 | 第15-17页 |
| ·基于像增强器的X射线数字成像系统 | 第17-18页 |
| ·成像系统的清晰度与分辨率研究 | 第18-27页 |
| ·图像清晰度的重要性 | 第18页 |
| ·图像清晰度与分辨率的概念及相互关系 | 第18-20页 |
| ·X射线源焦点尺寸对图像分辨率的影响 | 第20-21页 |
| ·放大倍数对图像分辨率的影响 | 第21-23页 |
| ·系统分辨率与最小缺陷尺寸的关系 | 第23-25页 |
| ·成像系统的分辨率模型 | 第25-27页 |
| ·X射线立体视觉检测系统的优化设计 | 第27-36页 |
| ·系统的组成与工作原理 | 第27-28页 |
| ·系统自动检测的流程 | 第28-29页 |
| ·立体视觉检测系统的硬件设计 | 第29-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第3章X射线图像的去噪与待检目标的分割 | 第37-42页 |
| ·图像噪声的去除 | 第37-38页 |
| ·待检目标的分割 | 第38-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 采样步长确定机制 | 第42-61页 |
| ·采样步长的确定 | 第42-54页 |
| ·最佳检测区间的确定 | 第54-55页 |
| ·各待检目标最优阈值的确定 | 第55-57页 |
| ·被检产品的检测策略 | 第57-58页 |
| ·随机方位下待检工件图在标准序列图中位置的确定 | 第58-60页 |
| ·工业产品的变步长检测 | 第60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第5章 实验结果及分析 | 第61-73页 |
| ·各目标采样步长及最佳检测区间的确定 | 第61-64页 |
| ·各待检目标最优阈值得确定 | 第64-65页 |
| ·检测策略的选取 | 第65-66页 |
| ·产品检测 | 第66-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 第6章 总结与展望 | 第73-74页 |
| ·论文研究的工作总结 | 第73页 |
| ·工作展望 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-79页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及参与研究的项目 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
