| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| ·研究背景与意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-13页 |
| ·论文主要研究内容和架构 | 第13-15页 |
| 第二章 高速高精度ADC频域特性测试理论与方法 | 第15-25页 |
| ·ADC简介 | 第15-19页 |
| ·积分型ADC | 第15-16页 |
| ·逐次逼近型ADC | 第16页 |
| ·并行型ADC | 第16-17页 |
| ·折叠插值型ADC | 第17-18页 |
| ·Σ-Δ 型ADC | 第18页 |
| ·高速高精度流水线型ADC | 第18-19页 |
| ·高速高精度ADC主要频域特性参数 | 第19-21页 |
| ·信噪比 | 第19-20页 |
| ·信噪失真比 | 第20页 |
| ·有效位数 | 第20页 |
| ·无杂散动态范围 | 第20页 |
| ·总谐波失真 | 第20-21页 |
| ·高速高精度ADC频域特性测试方法 | 第21-23页 |
| ·传统DAC测试法 | 第21-22页 |
| ·码密度直方图法 | 第22页 |
| ·正弦波拟合法 | 第22-23页 |
| ·快速傅里叶变换法 | 第23页 |
| ·本章小结 | 第23-25页 |
| 第三章 高速高精度ADC频域特性测试平台的搭建 | 第25-41页 |
| ·流水线ADC的MATLAB建模 | 第25-34页 |
| ·流水线ADC的工作原理与系统结构 | 第25-26页 |
| ·采样保持系统建模 | 第26-27页 |
| ·流水线首级建模 | 第27-30页 |
| ·流水线后级建模 | 第30-32页 |
| ·数字延迟校正电路建模 | 第32-33页 |
| ·流水线ADC的系统建模 | 第33-34页 |
| ·仿真实验平台的搭建 | 第34-35页 |
| ·硬件测试系统搭建 | 第35-36页 |
| ·ADC测试系统架构 | 第35页 |
| ·ADC硬件测试系统 | 第35-36页 |
| ·软件设计 | 第36-40页 |
| ·数据采集和控制程序设计 | 第36-39页 |
| ·MATLAB评测程序设计 | 第39-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 加窗法及平均频谱法测试频域参数 | 第41-53页 |
| ·采样方式 | 第41-43页 |
| ·相干采样 | 第41-42页 |
| ·非相干采样 | 第42页 |
| ·频谱泄漏和栅栏效应 | 第42-43页 |
| ·加窗技术 | 第43-47页 |
| ·窗函数的性能描述 | 第43页 |
| ·组合余弦窗 | 第43-46页 |
| ·结果与讨论 | 第46-47页 |
| ·平均频谱法 | 第47-52页 |
| ·平均频谱法原理 | 第48-49页 |
| ·结果与讨论 | 第49-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 三谱线插值FFT法测试频域参数 | 第53-65页 |
| ·谱线插值算法 | 第53-55页 |
| ·双谱线插值算法 | 第53-54页 |
| ·三谱线插值算法 | 第54-55页 |
| ·基于常用组合余弦窗的谱线插值算法 | 第55-58页 |
| ·一些常用组合余弦窗的修正公式 | 第55-56页 |
| ·结果与讨论 | 第56-58页 |
| ·基于最大旁瓣衰减窗的三谱线插值算法 | 第58-63页 |
| ·最大旁瓣衰减窗 | 第58-60页 |
| ·最大旁瓣衰减窗三谱线插值修正公式 | 第60-61页 |
| ·结果与讨论 | 第61-63页 |
| ·本章小结 | 第63-65页 |
| 第六章 总结与展望 | 第65-67页 |
| ·总结 | 第65页 |
| ·展望 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 附录: 作者在攻读硕士学位期间发表的论文和申请的专利 | 第72页 |