| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-14页 |
| 第1章 绪论 | 第14-38页 |
| ·引言 | 第14-17页 |
| ·高温超导体的电输运特性研究 | 第17-23页 |
| ·电阻温度特性(R-T特性) | 第18-21页 |
| ·超导态性质 | 第18-19页 |
| ·正常态性质 | 第19-20页 |
| ·磁场的影响 | 第20-21页 |
| ·电流电压特性(I-V特性) | 第21-23页 |
| ·Bi系超导材料的研究现状 | 第23-27页 |
| ·Bi系超导体的结构特征 | 第23-24页 |
| ·Bi系超导粉体的研究现状 | 第24-26页 |
| ·Bi-2212超导体的掺杂研究 | 第25页 |
| ·Bi-2201超导体的掺杂研究 | 第25-26页 |
| ·Bi系超导薄膜的研究现状 | 第26-27页 |
| ·本论文的研究意义和内容 | 第27-29页 |
| ·研究意义 | 第27-28页 |
| ·研究内容 | 第28-29页 |
| 参考文献 | 第29-38页 |
| 第2章 实验方法与原理 | 第38-58页 |
| ·引言 | 第38页 |
| ·相关物理概念 | 第38-40页 |
| ·渗透模型 | 第38-39页 |
| ·邻近效应 | 第39页 |
| ·约瑟夫森效应 | 第39-40页 |
| ·磁通动力学 | 第40页 |
| ·制备方法 | 第40-44页 |
| ·超导粉体的制备 | 第40-41页 |
| ·超导薄膜的制备 | 第41-42页 |
| ·超导块体及薄膜电极的制备 | 第42-44页 |
| ·四引线方法 | 第42-43页 |
| ·超导块体电极的制备 | 第43页 |
| ·超导薄膜电极的制备 | 第43-44页 |
| ·电输运测试系统 | 第44-51页 |
| ·电输运测试系统Ⅰ(77K～200K) | 第44-46页 |
| ·工作原理 | 第44-45页 |
| ·系统构造和各部件功能 | 第45页 |
| ·系统评价 | 第45-46页 |
| ·电输运测试系统Ⅱ(64K～273K) | 第46-48页 |
| ·工作原理 | 第46-47页 |
| ·系统构造和各部件功能 | 第47-48页 |
| ·系统评价 | 第48页 |
| ·电输运测试系统Ⅲ(10K～290K) | 第48-51页 |
| ·工作原理 | 第48页 |
| ·系统构造和各部件功能 | 第48-50页 |
| ·系统评价 | 第50-51页 |
| ·结构表征手段 | 第51-55页 |
| ·X射线衍射 | 第51-52页 |
| ·金相显微镜 | 第52页 |
| ·扫描电子显微镜 | 第52-53页 |
| ·原子力显微镜 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |
| 第3章 Bi_2Sr_2CaCu_2O_(8+δ)超导体中Bi位掺La对其电输运特性的影响 | 第58-78页 |
| ·引言 | 第58-59页 |
| ·实验过程 | 第59-60页 |
| ·样品制备 | 第59页 |
| ·分析方法 | 第59-60页 |
| ·结果与讨论 | 第60-72页 |
| ·(Bi_(1-x)La_x)_2Sr_2CaCu_2O_(8+δ)薄片的物相成分分析 | 第60-62页 |
| ·零场下(Bi_(1-x)La_x)_2Sr_2CaCu_2O_(8+δ)薄片的电输运特性研究 | 第62-68页 |
| ·正常态的电阻分析 | 第63-65页 |
| ·超导态的超导性能分析 | 第65-66页 |
| ·La掺杂引起Bi-2212颗粒超导电性的电输运模型 | 第66-68页 |
| ·磁场对(Bi_(1-x)La_x)_2Sr_2CaCu_2O_(8+δ)薄片的电输运特性影响 | 第68-72页 |
| ·本章结论 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-78页 |
| 第4章 由Sr/Ca不均匀结构引起80K Bi-2201超导电性的电输运特性研究 | 第78-98页 |
| ·引言 | 第78-79页 |
| ·实验过程 | 第79-80页 |
| ·样品制备 | 第79页 |
| ·分析方法 | 第79-80页 |
| ·结果与讨论 | 第80-95页 |
| ·BCSCO薄片的物相成分分析 | 第80-82页 |
| ·零场下BCSCO薄片的电输运特性研究 | 第82-88页 |
| ·正常态电阻分析 | 第82-84页 |
| ·超导态的超导性能分析 | 第84-86页 |
| ·Ca掺杂引起BCSCO颗粒超导电性的电输运模型 | 第86-88页 |
| ·磁场对BCSCO薄片的电输运特性影响 | 第88-95页 |
| ·本章结论 | 第95-96页 |
| 参考文献 | 第96-98页 |
| 第5章 c轴外延的Bi-2212薄膜中不均匀成分对其电输运特性的影响 | 第98-116页 |
| ·引言 | 第98-99页 |
| ·实验过程 | 第99-100页 |
| ·样品制备 | 第99页 |
| ·Bi-2212前驱溶液的制备 | 第99页 |
| ·Bi-2212薄膜的形成 | 第99页 |
| ·分析方法 | 第99-100页 |
| ·结果与讨论 | 第100-112页 |
| ·Bi-2212薄膜的结构分析 | 第100-104页 |
| ·Bi-2212薄膜的物相分析 | 第100-101页 |
| ·Bi-2212薄膜的微观形貌和成分分析 | 第101-104页 |
| ·Bi-2212薄膜的电输运特性研究 | 第104-112页 |
| ·零场下Bi-2212薄膜的电阻特性研究 | 第104-105页 |
| ·磁场对Bi-2212薄膜的电阻特性的影响 | 第105-109页 |
| ·Bi-2212薄膜的I-V特性研究 | 第109-112页 |
| ·本章结论 | 第112-113页 |
| 参考文献 | 第113-116页 |
| 第6章 结论 | 第116-118页 |
| 致谢 | 第118-120页 |
| 攻读博士学位期间已发表和在投的论文 | 第120-121页 |
