LED晶片检测中的电极定位图像处理及算法研究
| 致谢 | 第1-7页 |
| 摘要 | 第7-8页 |
| Abstract | 第8-10页 |
| 目次 | 第10-13页 |
| 图清单 | 第13-15页 |
| 表清单 | 第15-16页 |
| 1 绪论 | 第16-27页 |
| ·引言 | 第16-17页 |
| ·国内外研究现状 | 第17-19页 |
| ·LED 检测设备产业背景 | 第17-18页 |
| ·LED 晶片检测算法研究现状 | 第18-19页 |
| ·研究目的及意义 | 第19-20页 |
| ·LED 晶片检测图像处理系统的硬件环境 | 第20-21页 |
| ·LED 晶片的电极定位图像处理 | 第21-23页 |
| ·软件算法达到的目标及评价标准 | 第23-25页 |
| ·算法达到的目标 | 第23-24页 |
| ·LED 晶片检测图像处理系统的精度影响因素 | 第24-25页 |
| ·算法的评价标准 | 第25页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第25-27页 |
| 2 LED 晶片检测中的图像预处理及图像特征分析 | 第27-43页 |
| ·图像平滑增强 | 第27-33页 |
| ·时域平均法图像平滑 | 第28页 |
| ·空域内的图像平滑算法 | 第28-30页 |
| ·基于并行运算的自适应中值滤波算法 | 第30-33页 |
| ·图像平滑算法评价及总结 | 第33页 |
| ·图像畸变与校正 | 第33-37页 |
| ·图像畸变与校正数学模型 | 第33-35页 |
| ·畸变校正实验结果 | 第35-37页 |
| ·LED 晶片的图像特征分析 | 第37-42页 |
| ·LED 晶片图像的灰度特征 | 第37-39页 |
| ·LED 晶片图像的形态特征 | 第39-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 3 基于模板匹配的目标识别算法研究 | 第43-59页 |
| ·基于灰度信息的图像匹配算法 | 第43-47页 |
| ·基于特征的图像匹配算法 | 第47-50页 |
| ·基于区域特征的矩匹配算法 | 第47-50页 |
| ·基于形状特征的匹配算法 | 第50页 |
| ·本文算法 | 第50-57页 |
| ·基于边缘方向的相似度量方法 | 第51-52页 |
| ·加速终止策略及基于金字塔的多层搜索策略 | 第52-54页 |
| ·基于 HDevelop 的形状匹配算法步骤 | 第54-56页 |
| ·测试结果 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 4 LED 晶片电极定位中的几何基元拟合 | 第59-73页 |
| ·基于 Canny 算法的的亚像素边缘提取 | 第59-61页 |
| ·异形电极的直线拟合 | 第61-66页 |
| ·基于转轴法的外切矩形算法 | 第62-64页 |
| ·异形电极亚像素直线拟合算法 | 第64-66页 |
| ·LED 晶片圆形电极的识别定位算法 | 第66-71页 |
| ·带约束的最小二乘圆拟合算法 | 第67-68页 |
| ·圆拟合实验结果 | 第68-71页 |
| ·本章小结 | 第71-73页 |
| 5 识别定位算法性能评价 | 第73-78页 |
| ·算法稳定性评价 | 第73-76页 |
| ·光照变化的影响 | 第73-74页 |
| ·噪声干扰 | 第74-75页 |
| ·旋转测试 | 第75-76页 |
| ·算法的重复性精度测试 | 第76页 |
| ·算法耗时测试 | 第76-77页 |
| ·本章小结 | 第77-78页 |
| 6 LED 晶片检测图像处理系统软件设计 | 第78-81页 |
| ·软件界面设计 | 第78-79页 |
| ·LED 晶片检测软件设计 | 第79-81页 |
| 7 总结与展望 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-85页 |
| 附录 | 第85-88页 |
| 作者简历 | 第88页 |
