| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-14页 |
| 一、 研究背景及现状 | 第9-11页 |
| （一） X 射线荧光分析技术的应用发展 | 第9页 |
| （二） 几种先进的 XRF 分析仪 | 第9-11页 |
| 二、 研究目的及意义 | 第11-13页 |
| （一） 铁磁性材料 BaFe_(12)O_(19)分析方法 | 第11页 |
| （二） 便携式能量色散 X 射线荧光光谱仪特点 | 第11-13页 |
| 三、 研究内容 | 第13-14页 |
| 第二章 X 射线荧光分析基础 | 第14-17页 |
| 一、 X 射线产生及 X 射线谱 | 第14-15页 |
| （一） 连续谱 | 第14页 |
| （二） 特征谱 | 第14-15页 |
| 二、 定性分析的基础 | 第15页 |
| 三、 定量分析的基础 | 第15-17页 |
| 第三章 便携式 EDXRF 的构成及使用注意事项 | 第17-21页 |
| 一、 硬件构成 | 第17-20页 |
| （一） 电源部分 | 第17-18页 |
| （二） X 射线管 | 第18-19页 |
| （三） 探测器 | 第19页 |
| （四） 放大器 | 第19页 |
| （五） 多道脉冲幅度分析器 | 第19-20页 |
| 二、 光谱仪使用的注意事项 | 第20-21页 |
| 第四章 实验内容及数据处理 | 第21-36页 |
| 一、 光路的设计 | 第21-27页 |
| （一） 准直器的制作及功能 | 第21-23页 |
| （二） 角度的确定 | 第23-25页 |
| （三） 源‐样‐探距离的确定 | 第25-26页 |
| （四） 准直孔径的确定 | 第26-27页 |
| 二、 能量刻度曲线的绘制 | 第27-31页 |
| （一） 合金样品的熔融制备 | 第28-30页 |
| （二） 能量刻度曲线的绘制及验证 | 第30-31页 |
| 三、 样品制备 | 第31-32页 |
| （一） 样品制备的重要性 | 第31页 |
| （二） 固体样品的制备方法 | 第31-32页 |
| （三） 铁磁性材料 BaFe_(12)O_(19)的样品制备 | 第32页 |
| 四、 BaFe_(12)O_(19)中 Fe、Ba 含量的分析 | 第32-36页 |
| （一） 二元比例法简介 | 第32-33页 |
| （二） 定标曲线的绘制 | 第33-34页 |
| （三） 定标曲线的验证 | 第34页 |
| （四） 分析结果及讨论 | 第34-36页 |
| 第五章 结论 | 第36-37页 |
| 参考文献 | 第37-39页 |
| 附录 | 第39-45页 |
| 个人简历及攻读硕士学位期间已发表的论文 | 第45-46页 |
| 致谢 | 第46页 |
