自动灯检机系统及其信号处理方法的研究
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-10页 |
第一章 绪论 | 第10-20页 |
·安培瓶内杂质微粒的危害 | 第10-11页 |
·人工检测方法和机器视觉自动灯检机检测方法的概述 | 第11-12页 |
·人工检测方法的概述 | 第11页 |
·机器视觉自动灯检机的概述 | 第11-12页 |
·光阻法自动灯检机检测方法的详述 | 第12-17页 |
·光散射概述 | 第12-13页 |
·基于 Mie 式散射原理的光阻法检测原理 | 第13-14页 |
·大半径杂质微粒的几何遮光原理 | 第14-16页 |
·光阻法全自动灯检机的检测流程 | 第16-17页 |
·自动灯检机目前的进展 | 第17-18页 |
·课题的背景与本文的主要研究内容 | 第18-20页 |
第二章 自动灯检机的软硬件设计 | 第20-32页 |
·灯检机的光路设计 | 第20-21页 |
·灯检机的光源 | 第20页 |
·光路仿真与建模 | 第20-21页 |
·灯检机的 I/V 转换设计 | 第21-27页 |
·光电二极管 | 第21-22页 |
·光电二极管的等效模型 | 第22-23页 |
·光电二极管的前置放大电路及设计 | 第23-27页 |
·AD 采集卡的选择 | 第27-28页 |
·MP422 采集卡的性能和主要参数 | 第28页 |
·灯检机的系统软件设计 | 第28-30页 |
·静态下的整体测试装置图 | 第30-31页 |
·本章小结 | 第31-32页 |
第三章 机械同步系统检测及改进 | 第32-42页 |
·纤毛杂质在静态下测试所得的数据 | 第32页 |
·自动灯检机的机械结构及其在动态下采集的数据 | 第32-34页 |
·全自动灯检机的机械结构 | 第32-33页 |
·自动灯检机在动态下采集到的数据 | 第33-34页 |
·PSD 探测器检测及其实验装置 | 第34-36页 |
·PSD 探测器 | 第34-35页 |
·PSD 探测器检测实验装置 | 第35-36页 |
·PSD 探测器的三个实验及其分析 | 第36-39页 |
·检测机器的振动和光路偏移问题 | 第36-37页 |
·检测大装盘在每分钟两转下同步情况 | 第37-38页 |
·检验大装盘在每分钟5转下的同步情况 | 第38-39页 |
·机械同步方案的确定 | 第39页 |
·机械同步方案及其检测结果 | 第39-41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
第四章 自动灯检机系统的改进 | 第42-55页 |
·自动灯检机的现状 | 第42页 |
·四象限探测器及两种光电流放大方案 | 第42-48页 |
·四象限探测器 | 第42-43页 |
·四象限探测器的两种光电流放大方案的讨论 | 第43-44页 |
·模拟开关切换光电流的具体方案 | 第44-47页 |
·电路方案的最终确定 | 第47页 |
·四象限光电探测器的实际测试结果 | 第47-48页 |
·检测光路的改进 | 第48-51页 |
·双平凸柱面镜方案 | 第48-49页 |
·阵列透镜方案 | 第49-51页 |
·电路方面的改进 | 第51-52页 |
·软件方面的改进 | 第52-53页 |
·本章小结 | 第53-55页 |
第五章 基于光阻法的灯检机的信号处理方法研究 | 第55-71页 |
·纤毛杂质的安培瓶的原始信号 | 第55页 |
·几种常见的滤波器 | 第55-61页 |
·巴特沃斯滤波器 | 第55-56页 |
·均值滤波器 | 第56-57页 |
·理想低通滤波器 | 第57页 |
·小波变换 | 第57-61页 |
·不同滤波方法的实验结果分析 | 第61-64页 |
·不同滤波方法的滤波效果 | 第61-62页 |
·信噪比 | 第62-63页 |
·四种滤波器滤波效果分析与比较 | 第63-64页 |
·九种含纤毛杂质样品信号经小波变换滤波的信噪比 | 第64页 |
·信号时域判据的选择 | 第64-66页 |
·一阶微分谱和二阶微分谱 | 第64-65页 |
·分段求方差 | 第65-66页 |
·工频干扰的处理 | 第66页 |
·功率谱求和算法的提出 | 第66-68页 |
·安培瓶最佳检测自转转数和最佳检测时间的确定 | 第68-70页 |
·玻块最佳检测转数的确定 | 第68-69页 |
·杂质最佳检测时间的确定 | 第69-70页 |
·本章小结 | 第70-71页 |
第六章 全文总结及展望 | 第71-73页 |
·主要工作总结 | 第71-72页 |
·研究展望 | 第72-73页 |
参考文献 | 第73-76页 |
攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第76-77页 |
致谢 | 第77-79页 |