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MSM结构紫外探测器制备与性能研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-10页
第一章 绪论第10-17页
   ·引言第10-11页
   ·紫外探测器的研究现状第11-16页
     ·GaN基MSM结构紫外探测器研究现状第11-14页
     ·ZnO薄膜MSM结构紫外探测器研究现状第14-16页
   ·论文研究内容第16-17页
第二章 MSM结构紫外探测器制备设备、工艺和测试系统第17-30页
   ·MSM结构紫外探测器制备设备第17-22页
     ·光刻设备系统第17-18页
     ·电子束蒸发系统第18-19页
     ·磁控溅射系统第19-20页
     ·等离子体增强化学气相沉积系统第20-21页
     ·电感耦合等离子体刻蚀系统第21-22页
   ·MSM结构紫外探测器制备工艺流程第22-25页
     ·光刻工艺及其优化第23-24页
     ·金属薄膜电极制备第24页
     ·电极剥离工艺第24-25页
     ·电极引线封装第25页
   ·MSM结构紫外探测器测试系统第25-28页
     ·电学测试系统第26-27页
     ·探测器综合光电测试系统第27-28页
   ·本章小结第28-30页
第三章 GaN/AlGaN基MSM结构紫外探测器第30-43页
   ·GaN/AlGaN基MSM结构紫外探测器器件制备第30-31页
   ·GaN/AlGaN基MSM结构紫外探测器性能测试第31-37页
     ·GaN/AlGaN基MSM结构紫外探测器Ⅰ-Ⅴ特性第31-32页
     ·GaN/AlGaN基MSM结构紫外探测器光谱响应特性第32-34页
     ·斩波器调制频率对GaN/AlGaN紫外探测器光谱响应特性的影响第34-35页
     ·偏压对GaN/AlGaN紫外探测器光谱响应特性的影响第35-37页
   ·低温状态GaN/AlGaN基MSM结构紫外探测器光谱响应特性第37-41页
     ·温度20K偏压对GaN/AlGaN紫外探测器光谱响应特性的影响第37-39页
     ·低温对GaN/AlGaN紫外探测器光谱响应特性的影响第39-41页
   ·本章小结第41-43页
第四章 ZnO:Ga薄膜MSM结构紫外探测器第43-60页
   ·ZnO:Ga薄膜MSM结构紫外探测器器件制备第43-45页
     ·ZnO:Ga薄膜的制备第43页
     ·ZnO:Ga薄膜光学特性分析第43-44页
     ·ZnO:Ga薄膜MSM结构紫外探测器的制备第44-45页
   ·ZnO:Ga薄膜MSM结构紫外探测器Ⅰ-Ⅴ特性及退火处理第45-46页
     ·ZnO:Ga薄膜MSM结构紫外探测器Ⅰ-Ⅴ特性第45页
     ·ZnO:Ga薄膜MSM结构紫外探测器退火处理第45-46页
   ·500℃退火对ZnO:Ga薄膜MSM结构紫外探测器特性的影响第46-49页
     ·500℃退火ZnO:Ga薄膜MSM结构紫外探测器Ⅰ-Ⅴ特性第46-47页
     ·500℃退火ZnO:Ga薄膜MSM结构紫外探测器光谱响应特性第47-49页
     ·偏压对500℃退火ZnO:Ga薄膜紫外探测器光谱响应特性的影响第49页
   ·700℃退火对ZnO:Ga薄膜MSM结构紫外探测器特性的影响第49-53页
     ·700℃退火ZnO:Ga薄膜MSM结构紫外探测器Ⅰ-Ⅴ特性第49-50页
     ·700℃退火ZnO:Ga薄膜MSM结构紫外探测器光谱响应特性第50-52页
     ·偏压对700℃退火ZnO:Ga薄膜紫外探测器光谱响应特性的影响第52页
     ·斩波器调制频率对700℃退火紫外探测器光谱响应特性的影响第52-53页
   ·900℃退火对ZnO:Ga薄膜MSM结构紫外探测器特性的影响第53-59页
     ·900℃退火ZnO:Ga薄膜MSM结构紫外探测器Ⅰ-Ⅴ特性第53-54页
     ·900℃退火ZnO:Ga薄膜MSM结构紫外探测器光谱响应特性第54-56页
     ·偏压对900℃退火ZnO:Ga薄膜紫外探测器光谱响应特性的影响第56-57页
     ·斩波器调制频率对900℃退火紫外探测器光谱响应特性的影响第57-59页
   ·本章小结第59-60页
第五章 总结与展望第60-63页
   ·总结第60-61页
   ·展望第61-63页
致谢第63-64页
参考文献第64-69页
攻硕期间取得的研究成果第69页

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