基于FPGA的USB3.0原型验证平台的建立
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| ·研究的背景和意义 | 第10-11页 |
| ·研究现状 | 第11-13页 |
| ·论文组织架构 | 第13-15页 |
| 第2章 功能验证方法 | 第15-30页 |
| ·形式验证 | 第16-21页 |
| ·基于模拟的验证 | 第21-30页 |
| ·基于软件模拟的功能验证 | 第21-25页 |
| ·设计文档及验证计划 | 第22页 |
| ·创建测试用例 | 第22-23页 |
| ·仿真环境的创建 | 第23页 |
| ·仿真器仿真及结果分析 | 第23-24页 |
| ·验证平台的架构 | 第24-25页 |
| ·基于软件仿真的硬件加速的验证 | 第25-27页 |
| ·硬件加速验证系统的结构和工作原理 | 第25-27页 |
| ·基于硬件仿真的验证方法 | 第27-28页 |
| ·基于FPGA的验证方法 | 第28-30页 |
| 第3章 FPGA验证平台的设计 | 第30-58页 |
| ·FPGA验证平台的需求分析 | 第30-31页 |
| ·FPGA验证平台总体设计 | 第31-39页 |
| ·功能定义 | 第31-32页 |
| ·关键器件选型 | 第32-37页 |
| ·系统总体框架 | 第37-39页 |
| ·性能设计 | 第39-55页 |
| ·电磁兼容性设计 | 第39-41页 |
| ·信号完整性设计 | 第41-45页 |
| ·静电释放ESD防护问题 | 第45-47页 |
| ·电源系统设计 | 第47-52页 |
| ·SDRAM设计 | 第52-53页 |
| ·时钟电路设计 | 第53-55页 |
| ·可测性设计 | 第55页 |
| ·PCB设计 | 第55-58页 |
| ·原理图设计 | 第55-56页 |
| ·PCB设计 | 第56-58页 |
| 第4章 多FPGA验证平台设计的研究与讨论 | 第58-68页 |
| ·现有验证系统的互联结构 | 第59-61页 |
| ·矩阵式互联结构 | 第59-60页 |
| ·星形对称互连结构 | 第60页 |
| ·环形对称互连结构 | 第60-61页 |
| ·可配置的非对称互连结构 | 第61-64页 |
| ·非对称结构设计 | 第61-64页 |
| ·芯片布局 | 第62页 |
| ·互连通道设计 | 第62-64页 |
| ·四种互连结构的比较 | 第64页 |
| ·FPGA与外部模块间的可配置互连 | 第64-65页 |
| ·FPGA阵列逻辑下载 | 第65页 |
| ·对接口电平的灵活支持 | 第65-68页 |
| 第5章 FPGA验证平台验证调试 | 第68-78页 |
| ·FPGA验证平台实现流程 | 第68-69页 |
| ·从IC到FPGA的RTL转换 | 第69-71页 |
| ·修改存储单元 | 第70页 |
| ·修改时钟电路 | 第70页 |
| ·增加电路的流水 | 第70页 |
| ·减小FPGA内部走线延时 | 第70页 |
| ·增强扇出 | 第70-71页 |
| ·调整时序 | 第71页 |
| ·FPGA调试 | 第71-78页 |
| 第6章 总结和展望 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-82页 |
