| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-16页 |
| ·研究背景和意义 | 第8-9页 |
| ·研究背景 | 第8-9页 |
| ·研究意义 | 第9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-13页 |
| ·非正态控制图的研究概况 | 第10-11页 |
| ·非正态工序能力指数研究概况 | 第11-13页 |
| ·研究思路、研究内容和创新点 | 第13-16页 |
| ·研究思路和方法 | 第13页 |
| ·论文主要内容和框架 | 第13-15页 |
| ·论文创新点 | 第15-16页 |
| 第二章 非正态工艺参数的质量控制与评价技术理论综述 | 第16-30页 |
| ·常规控制图基本理论 | 第16-20页 |
| ·工序能力指数基本理论 | 第20-23页 |
| ·SPC技术在电子元器件制造过程中的应用 | 第23-25页 |
| ·电子元器件制造过程SPC实施流程 | 第23-24页 |
| ·国内外发展和应用情况 | 第24-25页 |
| ·电子元器件制造中的非正态工艺参数 | 第25-27页 |
| ·非正态控制图和非正态工序能力指数的相关综述 | 第27-30页 |
| 第三章 非正态工艺参数的统计过程控制模型 | 第30-44页 |
| ·非正态工艺参数与统计过程控制 | 第30-33页 |
| ·基于Box-Cox转换方法的SPC模型 | 第33-36页 |
| ·Box-Cox转换原理 | 第33-34页 |
| ·仿真实例 | 第34-36页 |
| ·基于Johnson转换方法的SPC模型 | 第36-42页 |
| ·Johnson转换原理 | 第37-40页 |
| ·仿真实例 | 第40-42页 |
| ·小结 | 第42-44页 |
| 第四章 非正态工艺参数的工序能力指数评价模型 | 第44-60页 |
| ·Cpk与成品率的关系 | 第44-47页 |
| ·基于等效工序能力指数非正态工艺参数的工序评价 | 第47-49页 |
| ·非正态工艺参数与工序能力指数 | 第49-50页 |
| ·基于Box-Cox转换的非正态工艺参数的工序能力指数 | 第50-54页 |
| ·计算步骤 | 第51页 |
| ·计算实例 | 第51-54页 |
| ·基于Johnson转换的非正态工艺参数的工序能力指数 | 第54-56页 |
| ·计算步骤 | 第54页 |
| ·计算实例 | 第54-56页 |
| ·两种数据转换方法的比较 | 第56-57页 |
| ·非正态工艺参数质量控制与评价方法流程图 | 第57-58页 |
| ·小结 | 第58-60页 |
| 第五章 案例分析和软件实现 | 第60-66页 |
| ·案例背景 | 第60页 |
| ·案例介绍 | 第60-61页 |
| ·实施步骤 | 第61-64页 |
| ·Box-Cox转换方法的应用 | 第61-63页 |
| ·Johnson转换方法的应用 | 第63-64页 |
| ·案例结论 | 第64页 |
| ·非正态工艺参数质量控制与评价软件模块的实现 | 第64-66页 |
| 第六章 总结和展望 | 第66-68页 |
| ·总结 | 第66页 |
| ·不足与展望 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68-70页 |
| 攻读硕士学位期间参与的科研项目和发表的论文 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-75页 |
