| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-12页 |
| ·研究背景和意义 | 第9-10页 |
| ·国内外的研究现状 | 第10页 |
| ·论文主要工作 | 第10-11页 |
| ·论文结构 | 第11-12页 |
| 第二章 嵌入式软件可测试性的理论基础 | 第12-20页 |
| ·嵌入式软件测试基础 | 第12-16页 |
| ·嵌入式系统 | 第12-13页 |
| ·软件测试及内容 | 第13-14页 |
| ·嵌入式软件与普通软件的区别 | 第14-15页 |
| ·嵌入式软件测试策略 | 第15-16页 |
| ·软件可测试性 | 第16-18页 |
| ·可测试性 | 第16-18页 |
| ·软件可测试性与软件测试、软件验证的关系 | 第18页 |
| ·本章小结 | 第18-20页 |
| 第三章 嵌入式软件可测试性的静态研究 | 第20-26页 |
| ·基本定义 | 第20页 |
| ·静态DRR模型 | 第20-22页 |
| ·隐式信息丢失与函数类型的关系 | 第22-24页 |
| ·静态DRR模型的可测试性度量 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第四章 嵌入式软件可测试性的动态研究 | 第26-42页 |
| ·相关定义 | 第26-27页 |
| ·软件错误/失效(Fault/Failure)模型 | 第27-28页 |
| ·动态PIE(Propagation,Infection,Execution)模型 | 第28-29页 |
| ·嵌入式软件的双故障模型(ESDFM) | 第29-41页 |
| ·嵌入式软件双故障模型提出 | 第29-31页 |
| ·嵌入式软件的双故障模型 | 第31-32页 |
| ·嵌入式软件双故障模型度量过程 | 第32-34页 |
| ·嵌入式软件双故障模型实例计算过程 | 第34-38页 |
| ·实验结果分析 | 第38-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第五章 嵌入式软件静动态结合的可测试性研究 | 第42-47页 |
| ·依据W模型静动态相结合 | 第42-43页 |
| ·一种新的嵌入式软件的可测试性框架 | 第43-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第六章 总结 | 第47-49页 |
| ·总结研究工作 | 第47-48页 |
| ·工作展望 | 第48-49页 |
| 参考文献 | 第49-52页 |
| 附录 | 第52-55页 |
| 致谢 | 第55页 |