| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-14页 |
| 第1章 绪论 | 第14-29页 |
| ·课题研究的目的和意义 | 第14-15页 |
| ·半导体激光器发展综述 | 第15-17页 |
| ·国外半导体激光器的发展 | 第15-16页 |
| ·国内半导体激光器的发展 | 第16-17页 |
| ·HLDA的研究现状 | 第17-22页 |
| ·半导体激光光束特性研究现状 | 第22-27页 |
| ·光场分布 | 第22-23页 |
| ·光束束宽 | 第23-24页 |
| ·发散角 | 第24-27页 |
| ·本文主要研究内容 | 第27-29页 |
| 第2章 HLDA远场分布模型和远场分布特性 | 第29-49页 |
| ·引言 | 第29页 |
| ·SLD远场分布模型 | 第29-32页 |
| ·模型建立 | 第29-31页 |
| ·模型验证 | 第31-32页 |
| ·HLDA远场分布模型 | 第32-38页 |
| ·HLDA结构 | 第32页 |
| ·模型建立 | 第32-34页 |
| ·模型验证 | 第34-38页 |
| ·HLDA光束截面光强分布特性 | 第38-41页 |
| ·光束截面光强分布随传输距离的变化 | 第38-40页 |
| ·驱动电流对光束截面光强分布的影响 | 第40-41页 |
| ·bar条不发光对HLDA远场分布特性的影响 | 第41-48页 |
| ·bar 条不发光对光束截面光强分布的影响 | 第42-44页 |
| ·不发光bar条数目不同时光强分布特性 | 第44-46页 |
| ·不发光bar条位置不同时光束特性 | 第46-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第3章 HLDA的束宽特性研究 | 第49-74页 |
| ·引言 | 第49页 |
| ·图像边缘检测 | 第49-53页 |
| ·图像边缘检测理论 | 第49-50页 |
| ·图像边缘检测算子 | 第50-53页 |
| ·基于光斑边缘曲线求解的束宽 | 第53-69页 |
| ·光强值的差分处理 | 第53-54页 |
| ·平滑滤波 | 第54-56页 |
| ·光斑边缘检测结果 | 第56-59页 |
| ·基于光斑边缘曲线求解束宽 | 第59-64页 |
| ·不同束宽求解方法的对比分析 | 第64-69页 |
| ·HLDA束宽随传输距离的变化特性分析 | 第69-73页 |
| ·SLD束宽变化特性 | 第69-70页 |
| ·简化HLDA束宽变化特性 | 第70-71页 |
| ·实际HLDA束宽变化特性 | 第71-73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 第4章 HLDA发散角测试方法和测试探头设计 | 第74-90页 |
| ·引言 | 第74页 |
| ·HLDA发散角测试方法 | 第74-82页 |
| ·传统发散角计算方法 | 第74-75页 |
| ·基于双光斑外缘曲线的发散角计算方法 | 第75-82页 |
| ·光接收探测装置设计 | 第82-89页 |
| ·探头组成结构 | 第82-86页 |
| ·利用探头测试发散角的过程和原理 | 第86-89页 |
| ·本章小结 | 第89-90页 |
| 第5章 HLDA光束特性测试系统设计和测试结果分析 | 第90-119页 |
| ·引言 | 第90页 |
| ·HLDA光束特性测试系统 | 第90-98页 |
| ·系统组成 | 第90-97页 |
| ·测试过程 | 第97-98页 |
| ·误差分析和补偿 | 第98-109页 |
| ·测试系统设计要求 | 第99-101页 |
| ·测试系统的系统误差分析 | 第101-105页 |
| ·随机误差和粗大误差 | 第105-106页 |
| ·误差补偿 | 第106-109页 |
| ·系统测试性能验证和分析 | 第109-113页 |
| ·系统综合测量误差对比实验 | 第109-110页 |
| ·系统重复测量精度分析 | 第110-111页 |
| ·系统测量稳定性分析 | 第111-113页 |
| ·实验结果与分析 | 第113-118页 |
| ·发散角测量结果 | 第113-114页 |
| ·驱动电流对HLDA光束特性的影响分析 | 第114-118页 |
| ·本章小结 | 第118-119页 |
| 结论 | 第119-122页 |
| 参考文献 | 第122-132页 |
| 攻读博士学位期间发表的学术论文 | 第132-134页 |
| 致谢 | 第134-135页 |
| 个人简历 | 第135页 |