| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-11页 |
| ·自组装单分子膜的研究背景 | 第8-9页 |
| ·论文的研究背景和主要内容 | 第9-11页 |
| ·论文的研究背景 | 第9页 |
| ·论文的研究内容 | 第9-11页 |
| 第二章 文献综述 | 第11-49页 |
| ·LB膜技术 | 第11-15页 |
| ·LB膜材料在亚相上的展开机理 | 第11-12页 |
| ·表面压及单分子膜的种类 | 第12-13页 |
| ·表面压 | 第12页 |
| ·单分子膜的种类 | 第12-13页 |
| ·LB膜的制备技术 | 第13-15页 |
| ·分子自组装技术 | 第15-28页 |
| ·分子自组装 | 第15页 |
| ·分子自组装薄膜 | 第15-19页 |
| ·自组装单分子膜 | 第16-17页 |
| ·自组装多层膜 | 第17-19页 |
| ·自组装单分子膜的几种主要体系 | 第19-24页 |
| ·脂肪酸在Al_2O_3等固体基表面上的自组装单分子膜 | 第19-20页 |
| ·有机硅烷衍生物的自组装单分子膜 | 第20-21页 |
| ·烷基硫醇在金、银、铜等表面上的自组装单分子膜 | 第21-23页 |
| ·硅表面上的烷基自组装单分子膜 | 第23-24页 |
| ·混合自组装单分子膜 | 第24-25页 |
| ·自组装单分子膜的表征 | 第25-26页 |
| ·分子自组装技术的应用 | 第26-28页 |
| ·原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM) | 第28-36页 |
| ·AFM发展历史及现状的概述 | 第28-29页 |
| ·AFM的工作原理和工作模式 | 第29-33页 |
| ·原子力显微镜的基本工作原理 | 第29-32页 |
| ·AFM的工作模式 | 第32-33页 |
| ·AFM的应用 | 第33-35页 |
| ·静电力显微镜对样品表面电势的测量 | 第35-36页 |
| ·表面润湿现象与接触角的测量 | 第36-43页 |
| ·润湿现象 | 第36页 |
| ·接触角 | 第36-43页 |
| ·接触角滞后 | 第38-39页 |
| ·接触角的测量方法 | 第39-43页 |
| 参考文献 | 第43-49页 |
| 第三章 实验部分 | 第49-57页 |
| ·药品 | 第49页 |
| ·单品硅基底表面的预处理 | 第49-50页 |
| ·纯OTS SAM和C8TES SAM的制备 | 第50-53页 |
| ·混合OTS/C8TES SAMs的制备 | 第53页 |
| ·样品的表征 | 第53-56页 |
| 参考文献 | 第56-57页 |
| 第四章 结果与讨论 | 第57-79页 |
| ·纯OTS SAM和C8TES SAM形成动力学 | 第57-63页 |
| ·C8TES SAM的内部结构特性 | 第63-66页 |
| ·共吸附法(coadsorption)制备混合C8TES/OTS SAMs | 第66-67页 |
| ·分步法(stepwise method)制备混合C8TES/OTS SAMs | 第67-77页 |
| ·分步法Ⅰ制各混合C8TES/OTS SAMs | 第67-72页 |
| ·分步法Ⅱ制备混合C8TES/OTS SAMs | 第72-77页 |
| 参考文献 | 第77-79页 |
| 第五章 结论 | 第79-80页 |
| 附录 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81页 |
