基于非接触式的劣化绝缘子检测方法的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 1 绪论 | 第10-20页 |
| ·本课题研究的意义 | 第10-12页 |
| ·绝缘子劣化的机理 | 第12-13页 |
| ·劣化绝缘子检测技术的国内外研究现状 | 第13-16页 |
| ·各种绝缘子检测方法的特征量 | 第16-17页 |
| ·本论文完成的工作 | 第17-20页 |
| 2 非接触式电场测量法 | 第20-42页 |
| ·电场测量法研究现状 | 第20-22页 |
| ·模拟电荷法 | 第22-24页 |
| ·非接触式电场测量法 | 第24-35页 |
| ·仿真计算 | 第35-39页 |
| ·本方法面临的问题 | 第39-40页 |
| ·结论 | 第40-42页 |
| 3 绝缘子表面的气体放电与紫外辐射 | 第42-54页 |
| ·绝缘子表面的气体放电 | 第42-46页 |
| ·空气电离的分析 | 第46-49页 |
| ·绝缘子串电位分布和紫外辐射的关系 | 第49-53页 |
| ·小结 | 第53-54页 |
| 4 紫外脉冲检测法 | 第54-72页 |
| ·概述 | 第54-55页 |
| ·日盲区紫外检测 | 第55-59页 |
| ·紫外检测系统实现 | 第59-70页 |
| ·小结 | 第70-72页 |
| 5 紫外脉冲法检测劣化绝缘子 | 第72-108页 |
| ·绝缘子的电老化和机械老化 | 第72-73页 |
| ·劣化绝缘子对绝缘子串电压分布的影响 | 第73-77页 |
| ·紫外法检测劣化绝缘子的原理 | 第77-84页 |
| ·高压大厅实验及分析 | 第84-100页 |
| ·现场实验及分析 | 第100-105页 |
| ·试验结果分析 | 第105页 |
| ·小结 | 第105-108页 |
| 6 紫外脉冲法检测污秽绝缘子 | 第108-120页 |
| ·绝缘子的污秽放电 | 第108-109页 |
| ·污秽绝缘子的判定 | 第109-112页 |
| ·110 kV 线路绝缘子污秽放电检测试验 | 第112-116页 |
| ·紫外法应用于绝缘子污秽状态在线检测的方法讨论 | 第116-117页 |
| ·小结 | 第117-120页 |
| 7 总结和展望 | 第120-124页 |
| ·对本文研究工作的总结 | 第120-122页 |
| ·存在的问题和展望 | 第122-124页 |
| 致谢 | 第124-126页 |
| 参考文献 | 第126-131页 |
| 附录 1 作者在攻读博士学位期间发表的论文目录 | 第131-132页 |
| 独创性声明 | 第132页 |
| 学位论文版权使用授权书 | 第132页 |
