| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 1 绪论 | 第10-14页 |
| ·国内外现状综述 | 第10-11页 |
| ·研究目的、内容、技术路线 | 第11-12页 |
| ·本研究的主要工作及章节内容 | 第12-14页 |
| ·测量方式 | 第12页 |
| ·基于FPGA 的视频图像处理系统的意义 | 第12-13页 |
| ·图像处理采用的技术方式 | 第13页 |
| ·论文的结构及章节内容 | 第13-14页 |
| 2 微米级位移的测量 | 第14-37页 |
| ·测量物理原理 | 第14-16页 |
| ·理想的情况 | 第14-15页 |
| ·实际情况下 | 第15-16页 |
| ·研究的意义 | 第16页 |
| ·具体系统设计 | 第16-33页 |
| ·系统总设计框图 | 第16页 |
| ·实验设备实物结构图(试验配套CCD，PC 和显微镜） | 第16-17页 |
| ·CCD 摄像头图像输入 | 第17-19页 |
| ·AD 转换 | 第19-20页 |
| ·二值化和存入SRAM | 第20-23页 |
| ·图像处理 | 第23-33页 |
| ·软件系统的设计 | 第33-37页 |
| ·采用Sopc 的技术背景及原因 | 第33-34页 |
| ·Altera 编译软件中设计的顶层qpf 文件 | 第34页 |
| ·有关NiosII 信息处理器系统 | 第34-36页 |
| ·设计系统的特点 | 第36-37页 |
| 3 亚微米级位移的测量 | 第37-54页 |
| ·传统劳埃德镜装置 | 第37页 |
| ·改进的劳埃德镜装置 | 第37-39页 |
| ·基本组成 | 第37-38页 |
| ·劳埃德镜装置的改进 | 第38-39页 |
| ·改进后劳埃德镜装置干涉条纹的处理 | 第39页 |
| ·对改进后劳埃德镜装置的检验 | 第39-46页 |
| ·微小位移的产生 | 第39-40页 |
| ·微小变化量的放大 | 第40页 |
| ·测量原理 | 第40-41页 |
| ·钢丝线性区的确定 | 第41-42页 |
| ·微小位移的放大 | 第42-43页 |
| ·干涉条纹的处理 | 第43-46页 |
| ·干涉放大系统中实验参数的确定 | 第46页 |
| ·单缝与CCD 之间的距离D 的确定 | 第46页 |
| ·相干缝光源的距离 d 的确定 | 第46-48页 |
| ·干涉图像的处理 | 第48-52页 |
| ·CCD 的校准 | 第48-49页 |
| ·CCD 处理原理 | 第49-50页 |
| ·条纹间距的自校准 | 第50页 |
| ·图像的存储、ADC 转换，二值化图像 | 第50-51页 |
| ·去噪、细化 | 第51-52页 |
| ·实验数据及误差的处理 | 第52-53页 |
| ·实验中D 的不确定性分析 | 第52页 |
| ·实验中d 的不确定度分析 | 第52-53页 |
| ·系统参数 | 第53-54页 |
| 4 整机硬件设计与器件的配置/下载 | 第54-62页 |
| ·视屏转换芯片 ADV7181B 的外围设计 | 第54-55页 |
| ·VGA 输出电路 | 第55页 |
| ·触摸屏接口电路 | 第55-56页 |
| ·下载/配置电缆的设计 | 第56-62页 |
| ·协议规范 | 第57-58页 |
| ·硬件外观 | 第58页 |
| ·软件说明 | 第58页 |
| ·支持芯片列表 | 第58-60页 |
| ·在下载/配置本研究中的器件2c35 芯片 | 第60-62页 |
| 5 总结 | 第62-64页 |
| ·工作总结 | 第62-63页 |
| ·存在的问题与改进方向 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
| 附录 | 第67-69页 |
| A. 作者在攻读学位期间发表的论文目录 | 第67页 |
| B. 作者在攻读学位期间取得的科研成果目录 | 第67-69页 |