基于单片机控制的PTCR阻温特性测试系统的设计与实现
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-8页 |
1 绪论 | 第8-13页 |
·智能仪表的国内外现状及发展趋势 | 第8页 |
·PTCR 测试系统概述 | 第8-10页 |
·PTCR 阻温特性及其测试要求 | 第10页 |
·本论文主要研究内容 | 第10-13页 |
2 PTCR 阻温特性测试系统总体方案设计 | 第13-18页 |
·PTCR 阻温特性测试参数分析 | 第13-14页 |
·测试系统测试原理及拓扑结构 | 第14-16页 |
·阻温特性测试系统的设计要求 | 第16-18页 |
3 测试系统硬件电路设计 | 第18-46页 |
·C8051F020 单片机及其端口配置 | 第18-26页 |
·电阻测量模块 | 第26-32页 |
·串行通信接口 | 第32-34页 |
·基于单总线的译码驱动电路 | 第34-39页 |
·液晶显示接口与键盘接口电路 | 第39-43页 |
·温度控制 | 第43页 |
·PCB 抗干扰设计 | 第43-46页 |
4 测试系统软件设计 | 第46-61页 |
·阻温特性测试系统测量主程序 | 第46-48页 |
·串行通信软件设计 | 第48-54页 |
·驱动程序设计 | 第54-59页 |
·温度控制程序设计 | 第59-60页 |
·数据处理和曲线绘制程序设计 | 第60-61页 |
5 系统运行及测试结果分析 | 第61-73页 |
·系统测电阻性能指标检验 | 第61-64页 |
·PTCR 样品阻温特性测试结果及分析 | 第64-73页 |
6 全文总结与展望 | 第73-75页 |
·工作总结 | 第73-74页 |
·展望 | 第74-75页 |
致谢 | 第75-76页 |
参考文献 | 第76-78页 |