光学图像测量技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 图像测量发展历程 | 第8-16页 |
| ·图像测量发展历程 | 第8-14页 |
| ·数字图像测量技术概述 | 第8-9页 |
| ·影响图像测量精度的因素 | 第9-11页 |
| ·图像测量技术研究状况及发展趋势 | 第11-14页 |
| ·课题主要研究内容 | 第14页 |
| ·本章小结 | 第14-16页 |
| 第二章 基于CCD 的非接触测量 | 第16-30页 |
| ·CCD 成像与空间分辨率 | 第16-20页 |
| ·CCD 图像传感器的工作原理 | 第16-18页 |
| ·CCD 图像传感器的空间分辨率 | 第18-19页 |
| ·CCD 成像光学系统的空间分辨率 | 第19-20页 |
| ·基于CCD 的非接触测量实例火炮药室测量系统 | 第20-28页 |
| ·引言 | 第20-21页 |
| ·系统组成 | 第21-23页 |
| ·测量原理 | 第23-24页 |
| ·系统药室参数测量过程的实现 | 第24-25页 |
| ·精度分析 | 第25-28页 |
| ·特色分析 | 第28页 |
| ·本章小结 | 第28-30页 |
| 第三章 光学图像测量技术的预处理工作 | 第30-46页 |
| ·CCD 摄像机标定 | 第30-40页 |
| ·CCD 摄像机的工作原理 | 第30-31页 |
| ·图像采集卡的工作原理 | 第31页 |
| ·CCD 摄像机的非线性畸变 | 第31-34页 |
| ·CCD 摄像机的标定 | 第34-36页 |
| ·畸变校正 | 第36-40页 |
| ·像素当量 | 第40-45页 |
| ·传统的求像素当量的方法 | 第41-43页 |
| ·本文的像素当量求取方法 | 第43-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 图像测量中的边缘检测技术研究 | 第46-74页 |
| ·图像边缘检测概述 | 第46-48页 |
| ·边缘检测研究现状 | 第48-49页 |
| ·经典的边缘检测算法 | 第49-56页 |
| ·梯度算子 | 第49-50页 |
| ·Roberts 梯度算子 | 第50页 |
| ·Prewitt 算子和Sobel 算子 | 第50页 |
| ·Kirsch 算子 | 第50-51页 |
| ·Laplacian 算子 | 第51页 |
| ·马尔算子 | 第51-53页 |
| ·Canny 算子 | 第53-54页 |
| ·沈峻边缘检测 | 第54-55页 |
| ·曲面拟合法 | 第55-56页 |
| ·本文的边缘检测算法 | 第56-64页 |
| ·Laplacian 细化边缘检测算法 | 第56页 |
| ·一种改进的Pal. King 边缘检测算法 | 第56-58页 |
| ·各种算法仿真结果和比较分析 | 第58-64页 |
| ·基于亚像素的边缘检测技术 | 第64-71页 |
| ·亚像素定位原理 | 第65页 |
| ·亚像素定位的前提条件 | 第65-66页 |
| ·亚像素定位方法概述 | 第66-69页 |
| ·几种代表性的亚像素边缘检测技术原理分析和比较 | 第69-71页 |
| ·本章小结 | 第71-74页 |
| 第五章 总结和展望 | 第74-76页 |
| ·本文工作的总结 | 第74-75页 |
| ·研究工作的展望 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-84页 |
