基于边界扫描技术的电网故障录波器行波测距卡的研制
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-18页 |
| ·电路板测试技术概述 | 第11-13页 |
| ·电网故障录波器故障测距概述 | 第13-15页 |
| ·电网故障录波器简介 | 第13-14页 |
| ·测距技术概述 | 第14-15页 |
| ·课题的任务与主要研究内容 | 第15-18页 |
| 第二章 行波测距卡的硬件设计 | 第18-35页 |
| ·行波测距卡的设计要求 | 第18-19页 |
| ·行波测距卡的硬件结构 | 第19-20页 |
| ·数据采集模块 | 第20-25页 |
| ·信号调理单元 | 第20-21页 |
| ·滤波单元 | 第21-22页 |
| ·抗混叠滤波器与高速模数转换器的动态范围 | 第22-23页 |
| ·模数转换单元 | 第23-24页 |
| ·数字采集单元时序设计 | 第24-25页 |
| ·逻辑控制模块 | 第25-26页 |
| ·数据存储模块 | 第26-29页 |
| ·锁相倍频模块 | 第29-31页 |
| ·接口模块 | 第31-32页 |
| ·待测电路 | 第32-33页 |
| ·抗干扰设计 | 第33页 |
| ·行波测距卡的工作流程 | 第33-35页 |
| 第三章 边界扫描技术及其应用 | 第35-47页 |
| ·边界扫描的基本结构 | 第35-39页 |
| ·测试存取口的信号 | 第36页 |
| ·TAP 控制器 | 第36-37页 |
| ·测试数据寄存器 | 第37-39页 |
| ·指令寄存器 | 第39页 |
| ·边界扫描测试方式 | 第39-42页 |
| ·旁路指令（BYPASS） | 第40页 |
| ·取样（SAMPLE） | 第40页 |
| ·预装指令（PRELOAD） | 第40页 |
| ·外测试方式（EXTEST） | 第40-41页 |
| ·内测试(INTEST) | 第41页 |
| ·运行内建自测试指令（RUNBIST） | 第41页 |
| ·取器件标志指令（IDCODE） | 第41页 |
| ·用户编码指令（USERCODE） | 第41-42页 |
| ·组件指令（CLAMP） | 第42页 |
| ·输出高阻指令（HIGHZ） | 第42页 |
| ·边界扫描描述语言BSDL | 第42-46页 |
| ·TAP 描述 | 第43-44页 |
| ·边界扫描寄存器描述 | 第44-46页 |
| ·边界扫描技术的应用 | 第46-47页 |
| 第四章 边界扫描测试系统的功能与结构 | 第47-54页 |
| ·测试系统的基本功能 | 第47-48页 |
| ·边界扫描测试系统的结构 | 第48-54页 |
| ·并口转换器 | 第48-51页 |
| ·被测电路板 | 第51-52页 |
| ·软件部分 | 第52-54页 |
| 第五章 行波测距卡的可测性设计 | 第54-61页 |
| ·板级扫描电路的基本连接方式 | 第54-55页 |
| ·PCB 可测性设计基本方法 | 第55-58页 |
| ·边界扫描器件置换法 | 第56页 |
| ·自建扫描结构置入法 | 第56-57页 |
| ·边界扫描器件置入法 | 第57-58页 |
| ·扫描链路设计中需注意的问题 | 第58-59页 |
| ·JTAG 信号的驱动问题 | 第58-59页 |
| ·电压兼容问题 | 第59页 |
| ·电路设计 | 第59-61页 |
| 第六章 PC 并口驱动程序与测试软件的设计 | 第61-70页 |
| ·PC 并口驱动程序的实现 | 第61-64页 |
| ·板级测试软件的设计 | 第64-70页 |
| ·TAP 完整性测试 | 第65-66页 |
| ·芯片ID 码的检测 | 第66-67页 |
| ·BS 器件互连测试 | 第67-68页 |
| ·簇测试 | 第68-70页 |
| 结束语 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 在学期间的研究成果 | 第74页 |
