| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| ·课题研究的必要性 | 第9-10页 |
| ·机械振动控制技术的发展现状 | 第10-12页 |
| ·机械振动主动控制技术 | 第10-11页 |
| ·机械振动被动控制技术 | 第11-12页 |
| ·机械振动控制技术在电子设备中应用现状 | 第12-13页 |
| ·本文主要研究内容 | 第13-15页 |
| 第二章 某机载电子设备结构简介 | 第15-18页 |
| ·设备整机简介 | 第15页 |
| ·设备模块简介 | 第15-18页 |
| 第三章 某机载电子设备动力学特性测试与分析 | 第18-38页 |
| ·模态分析理论 | 第18-25页 |
| ·基本理论 | 第18-20页 |
| ·实验模态分析理论 | 第20-22页 |
| ·计算模态分析理论 | 第22-25页 |
| ·某机载电子设备的模态分析 | 第25-31页 |
| ·实验模态分析 | 第25-28页 |
| ·计算模态分析 | 第28-31页 |
| ·某机载电子设备的动力学特性 | 第31-37页 |
| ·设备模块动力学特性 | 第31-36页 |
| ·设备整机动力学特性 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 机械振动对某机载电子设备元器件的影响 | 第38-64页 |
| ·研究机械振动对设备元器件的影响的必要性 | 第38页 |
| ·机械振动对晶体振荡器的影响 | 第38-62页 |
| ·晶体振荡器简介 | 第38-41页 |
| ·机械振动对晶体振荡器的影响理论分析 | 第41-48页 |
| ·机械振动对晶体振荡器的影响实验测试 | 第48-53页 |
| ·机械振动导致的相位噪声实验测试结果分析 | 第53-62页 |
| ·机械振动对设备其他重要元器件的影响研究 | 第62-63页 |
| ·机械振动对电容与线绕/非线绕电位器的影响 | 第62页 |
| ·机械振动对接触元器件的影响 | 第62-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 某机载电子设备机械振动控制研究 | 第64-82页 |
| ·机械振动控制基本原理与基本方法 | 第64-67页 |
| ·机械振动控制的基本原理 | 第64页 |
| ·机械振动控制基本方法及在某机载电子设备中的应用 | 第64-67页 |
| ·某机载电子设备结构动力学修改与优化设计 | 第67-75页 |
| ·设备模块主印制电路板约束方式修改与优化 | 第67-72页 |
| ·设备模块元器件布局修改与优化 | 第72-75页 |
| ·某机载电子设备内部粘弹性阻尼结构减振研究 | 第75-81页 |
| ·阻尼结构减振基本原理 | 第75-76页 |
| ·设备模块内部阻尼结构的设计与测试 | 第76-81页 |
| ·本章小结 | 第81-82页 |
| 第六章 结论和后续研究展望 | 第82-84页 |
| ·本论文研究结论 | 第82-83页 |
| ·后续研究展望 | 第83-84页 |
| 附录 | 第84-96页 |
| 附录A 晶振实验模块的振动分析参数 (Z方向) | 第84-87页 |
| A.1 本振电路在位置1时的实验分析模态参数 | 第84-85页 |
| A.2 本振电路在位置1、2、3时的有限元分析模态参数 | 第85-87页 |
| 附录B 机械振动引起的晶振试验模块相位噪声测试实验报告 | 第87-96页 |
| B.1 振动引起的相位噪声实验测试方案 | 第87-88页 |
| B.2 实验步骤和内容 | 第88-91页 |
| B.3 实验测试结果 | 第91-96页 |
| 参考文献 | 第96-99页 |
| 致谢 | 第99-100页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第100页 |