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基于CPLD和虚拟仪器技术的镀膜机膜厚控制系统的研究

目录第1-4页
摘要第4-5页
ABSTRACT第5-6页
第一章 绪论第6-8页
 §1.1 引言第6页
 §1.2 国际与国内研究现状第6-7页
 §1.3 论文研究的目的与内容第7-8页
第二章 离子束溅射镀膜机膜厚控制原理第8-14页
 §2.1 离子束溅射镀膜机的工作原理第8-9页
 §2.2 膜厚控制基本原理第9-14页
第三章 离子束镀膜机膜厚控制系统总体设计第14-27页
 §3.1 系统总体方案设计第14-16页
 §3.2 系统主要部分设计指标要求与分析第16-20页
 §3.3 CPLD技术在此系统中的应用第20-27页
第四章 系统软件设计第27-38页
 §4.1 串行通讯软件设计第27-28页
 §4.2 单片机处理程序流程图第28-30页
 §4.3 基于虚拟仪器的软件设计第30-38页
第五章 系统可靠性分析第38-41页
 §5.1 系统可靠性第38-39页
 §5.2 印刷电路板的可靠性设计第39-41页
第六章 实验测试与分析第41-44页
结论与展望第44-46页
致谢第46-47页
参考文献第47-49页
附录1 等精度频率计的CPLD原理图第49-50页
附录2 等精度频率计的VHDL语言实现第50-52页
附录3 单片机处理程序清单第52-55页
附录4 等精度频率计的原理图设计第55-56页
附录5 等精度频率计的PCB电路板设计第56页

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