基于星载合成孔径雷达干涉测量技术的数字高程模型生成研究
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-8页 |
目录 | 第8-11页 |
图表目录 | 第11-14页 |
1 绪论 | 第14-22页 |
·数字高程模型及应用 | 第14-15页 |
·合成孔径雷达干涉测量技术 | 第15-18页 |
·InSAR测量模式 | 第15-17页 |
·发展及现状 | 第17-18页 |
·本文研究目的和内容 | 第18-20页 |
·研究目的 | 第18-19页 |
·研究内容 | 第19-20页 |
·论文结构 | 第20-22页 |
2 重复轨迹干涉测量技术 | 第22-46页 |
·引言 | 第22页 |
·SAR简介 | 第22-30页 |
·合成孔径原理 | 第24-25页 |
·系统理论模型 | 第25-26页 |
·成像处理 | 第26-27页 |
·图像特点 | 第27-30页 |
·干涉测量原理 | 第30-35页 |
·基本测量原理 | 第30-31页 |
·空间矢量模型 | 第31-34页 |
·二维几何模型 | 第34-35页 |
·干涉相位的观测特性 | 第35-39页 |
·干涉测量的数据处理 | 第39-42页 |
·InSAR测高精度的影响因素分析 | 第42-45页 |
·小结 | 第45-46页 |
3 高质量干涉相位图生成 | 第46-98页 |
·引言 | 第46页 |
·干涉相位的统计特性 | 第46-52页 |
·干涉图、干涉相位和复相干 | 第46-48页 |
·干涉相位的统计特性 | 第48-51页 |
·干涉相位的估计 | 第51-52页 |
·相干系数 | 第52-56页 |
·相干系数和信噪比的关系 | 第52-53页 |
·相干系数的估计 | 第53-56页 |
·影响干涉相位质量的因素 | 第56-60页 |
·谱移滤波 | 第60-74页 |
·距离向滤波 | 第61-65页 |
·方位向滤波 | 第65-68页 |
·谱移滤波的实验结果及分析 | 第68-74页 |
·混叠效应对干涉相位的影响分析 | 第74-80页 |
·混叠的发生 | 第74-76页 |
·重采样处理 | 第76-77页 |
·处理效果的相干性分析 | 第77-80页 |
·多视处理和复相干估计对干涉相位的影响 | 第80-86页 |
·多视处理 | 第80-82页 |
·复相干估计 | 第82-84页 |
·处理流程对干涉相位的影响 | 第84-86页 |
·平地效应及其处理方法 | 第86-96页 |
·平地效应 | 第86-89页 |
·去平地效应的方法 | 第89-96页 |
·小结 | 第96-98页 |
4 基线估计 | 第98-113页 |
·引言 | 第98页 |
·轨道和基线 | 第98-103页 |
·轨道基础知识 | 第98-101页 |
·基线模型 | 第101-103页 |
·基线对InSAR系统性能的影响 | 第103-106页 |
·对相干性的影响 | 第103-105页 |
·系统对基线精度的要求 | 第105页 |
·最优基线参数 | 第105-106页 |
·几种典型基线估计方法 | 第106-109页 |
·配准轨道法 | 第109-112页 |
·小结 | 第112-113页 |
5 高度图生成与地理编码 | 第113-134页 |
·引言 | 第113页 |
·相位高度变换 | 第113-116页 |
·基于相对相位的相位高度变换 | 第113-114页 |
·基于绝对相位的相位高度变换 | 第114-115页 |
·基于多项式拟合的Schwabisch法 | 第115-116页 |
·地理编码 | 第116-124页 |
·空间坐标参考系统 | 第117-119页 |
·前向地理编码 | 第119-122页 |
·后向地理编码 | 第122-124页 |
·干涉相位图模拟器 | 第124-129页 |
·干涉相位图模拟 | 第125-126页 |
·地形数据模拟 | 第126-128页 |
·实验结果 | 第128-129页 |
·InSAR DEM质量评价的相关问题 | 第129-133页 |
·高程的定义 | 第130-131页 |
·DEM质量 | 第131页 |
·DEM的误差定义 | 第131-132页 |
·高度图的验证 | 第132-133页 |
·小结 | 第133-134页 |
6 应用实验研究 | 第134-151页 |
·实验数据说明 | 第134-137页 |
·ERS图像 | 第134-137页 |
·参考DEM | 第137页 |
·实验结果 | 第137-147页 |
·实验结果分析 | 第147-151页 |
7 结束语 | 第151-153页 |
参考文献 | 第153-162页 |
博士期间发表的论文 | 第162-163页 |
致谢 | 第163页 |