基于成像光谱图像特征的处理方法研究
中文摘要 | 第1-4页 |
英文摘要 | 第4-8页 |
图表索引 | 第8-10页 |
第一章 绪 论 | 第10-19页 |
1.1 引言 | 第10-13页 |
1.2 成像光谱图像处理问题提出 | 第13-18页 |
1.2.1 成像光谱图像组成 | 第13-14页 |
1.2.2 成像光谱图像压缩问题 | 第14-16页 |
1.2.3 成像光谱图像暗条带校正问题 | 第16-18页 |
1.2.3.1 传统校正方法 | 第16-17页 |
1.2.3.2 局部增强校正方法 | 第17-18页 |
1.3 论文研究内容 | 第18-19页 |
第二章 成像光谱图像特征分析 | 第19-36页 |
2.1 引言 | 第19页 |
2.2 基本理论 | 第19-21页 |
2.3 数字图像的相关理论 | 第21-24页 |
2.3.1 数字图像的自相关理论 | 第21-23页 |
2.3.2 数字图像的互相关理论 | 第23-24页 |
2.4 数字图像信息熵的理论 | 第24-25页 |
2.5 成像光谱图像特征分析 | 第25-34页 |
2.5.1 自相关特征分析 | 第26-28页 |
2.5.2 互相关特征分析 | 第28-29页 |
2.5.3 成像光谱图像相关性特征总结 | 第29-30页 |
2.5.4 成像光谱图像信息熵的特征分析 | 第30-34页 |
2.5.4.1 噪声概率密度分布模型的熵 | 第30-31页 |
2.5.4.2 成像光谱图像的信息熵 | 第31-33页 |
2.5.4.3 成像光谱图像噪声概率密度分布 | 第33-34页 |
2.6 本章小结 | 第34-36页 |
第三章 基于成像光谱图像特征的暗条带校正 | 第36-56页 |
3.1 引言 | 第36页 |
3.2 常规的插值校正方法 | 第36-39页 |
3.2.1 最近邻插值方法 | 第37页 |
3.2.2 双线性插值方法 | 第37-38页 |
3.2.3 三次卷积插值方法 | 第38-39页 |
3.3 暗条带曲面拟合校正 | 第39-46页 |
3.3.1 暗条带检测 | 第40-43页 |
3.3.1.1 暗条带检测目的及方法 | 第40-42页 |
3.3.1.2 暗条带检测中的阈值选择 | 第42-43页 |
3.3.2 暗条带曲面拟合校正 | 第43-44页 |
3.3.3 暗条带曲面拟合校正的实现过程 | 第44-46页 |
3.4 实验及结论 | 第46-55页 |
3.4.1 暗条带检测实验 | 第46-48页 |
3.4.2 暗条带检测中的检测结果优化算法 | 第48-50页 |
3.4.3 暗条带曲面拟合校正实验 | 第50-51页 |
3.4.4 暗条带校正对光谱信息的影响 | 第51-55页 |
3.4.4.1 暗条带校正对光谱信息的影响实验 | 第51-53页 |
3.4.4.2 实验结果分析 | 第53-55页 |
3.5 本章小结 | 第55-56页 |
第四章 基于成像光谱图像特征的无损压缩 | 第56-79页 |
4.1 引言 | 第56-57页 |
4.2 图像无损压缩技术 | 第57-63页 |
4.2.1 基于字典的无损压缩技术 | 第58-59页 |
4.2.1.1 行程编码 | 第58-59页 |
4.2.1.2 LZW编码 | 第59页 |
4.2.2 统计编码方法 | 第59-63页 |
4.2.2.1 霍夫曼编码 | 第59-60页 |
4.2.2.2 JPEG无损压缩编码 | 第60-61页 |
4.2.2.3 算术压缩编码 | 第61-62页 |
4.2.2.4 Rice压缩编码 | 第62-63页 |
4.3 图像去相关技术 | 第63-68页 |
4 3.1 差值脉冲编码调制法(DPCM) | 第63-67页 |
4.3.2 空间预测编码 | 第67-68页 |
4.3.3 帧间预测编码 | 第68页 |
4.4 成像光谱图像D~2PCM压缩 | 第68-77页 |
4.5 实验结果及结论 | 第77-78页 |
4.6 本章小结 | 第78-79页 |
第五章 结论与展望 | 第79-81页 |
5.1 结论 | 第79-80页 |
5.2 展望 | 第80-81页 |
致 谢 | 第81-82页 |
附 录 | 第82-88页 |
参考文献 | 第88-92页 |
作者攻读博士学位期间发表的论文 | 第92-93页 |
作者简历 | 第93页 |