基于BDD的逻辑电路验证
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 引言 | 第10-11页 |
| 1 绪论 | 第11-14页 |
| ·研究的背景和意义 | 第11-12页 |
| ·国内外研究现状 | 第12-14页 |
| 2 集成电路设计验证综述 | 第14-24页 |
| ·模拟验证方法 | 第14-16页 |
| ·软件模拟 | 第14-15页 |
| ·硬件仿真 | 第15-16页 |
| ·测试 | 第16页 |
| ·形式化验证 | 第16-20页 |
| ·模型检验 | 第17-18页 |
| ·定理证明 | 第18-19页 |
| ·等价性检查 | 第19-20页 |
| ·半形式化验证 | 第20-23页 |
| ·覆盖率驱动的验证方法 | 第21页 |
| ·符号模拟 | 第21-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 3 二叉判定图及其在等价性验证中的应用 | 第24-35页 |
| ·二叉判定图相关的定义 | 第24-27页 |
| ·基本的二叉判定图 | 第24-25页 |
| ·有序二叉判定图 | 第25-26页 |
| ·精简的有序二叉判定图 | 第26-27页 |
| ·二叉判定图的性质 | 第27页 |
| ·电路的二叉判定图表示 | 第27-28页 |
| ·二叉判定图的运算 | 第28-29页 |
| ·二叉判定图的迭代运算 | 第28-29页 |
| ·二叉判定图的变量排序 | 第29-34页 |
| ·变量排序对二叉判定图的影响 | 第29-30页 |
| ·深度优先BDD 构造算法 | 第30-32页 |
| ·动态变量排序 | 第32-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 4 基于BDD 的组合电路等价性验证 | 第35-43页 |
| ·随机仿真 | 第35-36页 |
| ·基于替代的结构性验证方法 | 第36-37页 |
| ·割集和局部BDD 技术 | 第37-39页 |
| ·建议的算法和实验结果分析 | 第39-41页 |
| ·本章小结 | 第41-43页 |
| 5 基于BDD 的时序电路等价性验证 | 第43-53页 |
| ·基于状态遍历的时序等价性验证 | 第43-46页 |
| ·时序电路随机仿真 | 第46页 |
| ·时序电路结构相似性技术 | 第46-47页 |
| ·建议算法的验证流程 | 第47-51页 |
| ·建议算法实验结果及分析 | 第51页 |
| ·本章小结 | 第51-53页 |
| 6 工作总结与展望 | 第53-55页 |
| ·工作总结 | 第53-54页 |
| ·工作展望 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-60页 |
| 在学研究成果 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61页 |
