YHFT-DX关键电路测试芯片的设计
| 摘要 | 第1-11页 |
| ABSTRACT | 第11-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-19页 |
| ·课题的研究背景 | 第12-14页 |
| ·相关研究 | 第14-17页 |
| ·课题研究的主要内容 | 第17-18页 |
| ·论文的组织结构 | 第18-19页 |
| 第二章 关键电路模块的结构与功能验证 | 第19-30页 |
| ·YHFT-DX关键电路模块结构 | 第19-20页 |
| ·RDS模块功能介绍和所采用的新技术 | 第20-23页 |
| ·RDS模块功能验证 | 第23-29页 |
| ·基于参考模型的功能模拟验证方法 | 第23-27页 |
| ·功能测试码的开发与模拟验证 | 第24-26页 |
| ·基于覆盖率驱动的验证理论 | 第26-27页 |
| ·验证结果分析 | 第27页 |
| ·基于参考机的RDS模块功能验证环境 | 第27-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 测试芯片设计方案 | 第30-37页 |
| ·测试芯片的设计目标 | 第30页 |
| ·基于扫描的设计方法 | 第30-32页 |
| ·关键电路流片测试方案 | 第32-36页 |
| ·扫描测试的优点 | 第33页 |
| ·基于扫描的测试方案 | 第33-35页 |
| ·多流水扫描测试方案 | 第35-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 测试芯片的设计实现与验证 | 第37-53页 |
| ·测试芯片的电路设计 | 第37-44页 |
| ·频率可调时钟产生电路 | 第37-39页 |
| ·扫描链电路 | 第39-41页 |
| ·输入/输出移位寄存器电路 | 第41-42页 |
| ·使能控制电路 | 第42-43页 |
| ·测试电路设计总结 | 第43-44页 |
| ·测试芯片的版图设计 | 第44-47页 |
| ·全定制版图设计流程 | 第44-45页 |
| ·封装及I/O PAD | 第45-46页 |
| ·测试芯片全局版图设计 | 第46-47页 |
| ·模拟验证 | 第47-52页 |
| ·模拟验证环境的建立 | 第48-49页 |
| ·电路图的模拟验证 | 第49-51页 |
| ·版图的模拟验证 | 第51-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 封装后芯片的测试方案 | 第53-59页 |
| ·测试芯片的流片与封装 | 第53页 |
| ·测试板设计方案 | 第53-55页 |
| ·测试流程 | 第55-58页 |
| ·测试结果 | 第58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第六章 结束语 | 第59-61页 |
| ·工作总结 | 第59页 |
| ·未来工作展望 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-64页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第64-65页 |
| 附录A 二级CACHE存储体部分测试程序 | 第65-66页 |
