摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-7页 |
目录 | 第7-9页 |
第1章 绪论 | 第9-19页 |
·LED 的结构及发光原理 | 第9-10页 |
·LED 的特点和优点 | 第10-11页 |
·白光LED 的实现方法 | 第11-14页 |
·白光LED 的主要应用 | 第14-16页 |
·国内外研究现状及发展趋势 | 第16-17页 |
·本论文的选题意义 | 第17-18页 |
·论文的工作内容 | 第18-19页 |
第2章 LED 的可靠性研究 | 第19-25页 |
·可靠性的基本概念 | 第19-20页 |
·可靠性研究的重要意义 | 第20-21页 |
·可靠性研究方法 | 第21-22页 |
·电流加速寿命试验 | 第22-23页 |
·本章小结 | 第23-25页 |
第3章 大功率白光 LED 可靠性试验 | 第25-49页 |
·可靠性测试系统 | 第25-26页 |
·LED 老化试验台 | 第25页 |
·测试系统 | 第25-26页 |
·试验方案 | 第26-29页 |
·试验样品的选取 | 第26-27页 |
·加速应力的选取 | 第27-28页 |
·试验过程 | 第28-29页 |
·试验结果与讨论 | 第29-44页 |
·1W LED 电流加速寿命试验结果 | 第29-37页 |
·3W LED 电流加速寿命试验结果 | 第37-44页 |
·寿命推算 | 第44-47页 |
·推算样品在加速应力下的寿命 | 第44-46页 |
·推算样品在正常电流下的寿命 | 第46-47页 |
·试验中的误差分析 | 第47页 |
·本章小结 | 第47-49页 |
第4章 大功率白光 LED 的失效机理分析及改善措施 | 第49-61页 |
·大功率白光LED 的失效机理分析 | 第49-53页 |
·荧光粉退化 | 第50页 |
·封装材料的热退化 | 第50-52页 |
·散热不良引起的失效 | 第52-53页 |
·P 型欧姆接触退化 | 第53页 |
·静电引起的灾变性失效 | 第53页 |
·提高大功率白光LED 可靠性的措施 | 第53-59页 |
·降低结温 | 第54-55页 |
·改进封装设计 | 第55页 |
·采用新型封装材料 | 第55-57页 |
·开发新的荧光粉和涂敷工艺 | 第57-58页 |
·静电防护技术 | 第58-59页 |
·本章小结 | 第59-61页 |
结论 | 第61-63页 |
参考文献 | 第63-67页 |
攻读硕士期间发表的学术论文 | 第67-69页 |
致谢 | 第69页 |