基于DSP和ARM的备用电源自投装置的研制
摘要 | 第1页 |
ABSTRACT | 第4-7页 |
第一章 引言 | 第7-11页 |
·选题的背景及意义 | 第7-8页 |
·国内外研究现状和进展 | 第8-9页 |
·论文的研究内容和主要工作 | 第9-11页 |
第二章 备用电源自投装置的硬件系统设计 | 第11-20页 |
·硬件设计方案的比较选择 | 第11-12页 |
·备用电源自投装置的功能、结构和工作过程 | 第12-13页 |
·备用电源自投装置的功能定义与描述 | 第12页 |
·备用电源自投装置的结构 | 第12页 |
·备用电源自投装置的工作过程 | 第12-13页 |
·备用电源自投装置的模块化设计 | 第13-19页 |
·CPU插件的设计 | 第13-16页 |
·CPU的特点 | 第13-14页 |
·模拟量输入通道的设计 | 第14-15页 |
·数字量输入通道的设计 | 第15页 |
·数字量输出通道的设计 | 第15页 |
·通讯功能模块的设计 | 第15-16页 |
·交流插件的设计 | 第16页 |
·电源插件的设计 | 第16页 |
·出口插件的设计 | 第16-17页 |
·通讯插件的设计 | 第17-18页 |
·通讯处理器的功能特点 | 第17-18页 |
·通讯插件支持的通讯协议 | 第18页 |
·人机界面(MMI板)的设计 | 第18-19页 |
·硬件系统设计小结 | 第19-20页 |
第三章 系统软件算法的分析与选择 | 第20-27页 |
·系统软件算法的选择 | 第20页 |
·傅氏算法的分析 | 第20-24页 |
·全周傅氏算法 | 第20-22页 |
·半周傅氏算法 | 第22页 |
·傅氏算法的频率响应 | 第22-24页 |
·差分算法抑制衰减直流分量的影响分析 | 第24-26页 |
·算法小结 | 第26-27页 |
第四章 备用电源自投装置的软件系统设计 | 第27-50页 |
·软件的模块化设计原则 | 第27页 |
·备自投装置的系统软件的模块化设计 | 第27-31页 |
·CPU插件主程序的设计 | 第27-29页 |
·初始化及自检程序 | 第27-28页 |
·中断处理程序 | 第28-29页 |
·人机界面程序的设计 | 第29-31页 |
·通讯插件中通讯程序的设计 | 第31页 |
·备自投装置的逻辑功能设计 | 第31-48页 |
·备用电源自投逻辑的总体要求 | 第31-32页 |
·1号电源进线的逻辑设计 | 第32-38页 |
·2号电源进线的逻辑设计 | 第38-43页 |
·3号电源进线的逻辑设计 | 第43-48页 |
·定值清单 | 第48-49页 |
·小结 | 第49-50页 |
第五章 备自投装置的电磁兼容问题和抗干扰措施 | 第50-54页 |
·电磁兼容及其抗干扰措施 | 第50页 |
·有关国家标准对电磁兼容的规定 | 第50-51页 |
·硬件抗干扰措施 | 第51-52页 |
·隔离和屏蔽 | 第51-52页 |
·模拟量的抗干扰措施 | 第51页 |
·开关量的抗干扰措施 | 第51-52页 |
·通讯接口的抗干扰措施 | 第52页 |
·电源的抗干扰措施 | 第52页 |
·前面板的抗干扰措施 | 第52页 |
·合理布局 | 第52页 |
·软件抗干扰措施 | 第52-54页 |
·数据采集的抗干扰措施 | 第52-53页 |
·设置看门狗(Watchdog)电路 | 第53页 |
·开出的软件安全措施 | 第53-54页 |
第六章 备自投装置的的测试与检验 | 第54-64页 |
·概述 | 第54页 |
·模拟量测试 | 第54页 |
·开入量的测试 | 第54-55页 |
·开出量的测试 | 第55页 |
·备自投逻辑的测试 | 第55-62页 |
·1#备自投调试(1#进线)步骤 | 第55-57页 |
·2#备自投调试(2#进线)步骤 | 第57-60页 |
·3#备自投调试(3#进线)步骤 | 第60-62页 |
·备自投逻辑测试小结 | 第62页 |
·绝缘和耐压测试 | 第62-64页 |
结论 | 第64-65页 |
参考文献 | 第65-67页 |
致谢 | 第67-68页 |
在学期间发表的学术论文和参加科研情况 | 第68页 |