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TERS仪器专用STM针尖扫描头的研制

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
第一章 绪论第13-21页
    1.1 课题研究背景及意义第13-16页
    1.2 STM系统的研究现状第16-19页
    1.3 本文主要研究内容第19-21页
第二章 系统整体设计第21-29页
    2.1 扫描隧道显微镜原理第21-22页
    2.2 扫描隧道显微镜扫描模式第22-23页
    2.3 系统需求分析与方案设计第23-25页
    2.4 系统关键技术第25-28页
        2.4.1 压电陶瓷驱动第25-26页
        2.4.2 位移传感器选择与设计第26-27页
        2.4.3 弱电流检测第27-28页
    2.5 本章小结第28-29页
第三章 系统硬件设计第29-49页
    3.1 压电陶瓷驱动电路设计第29-33页
        3.1.1 压电陶瓷驱动电路整体结构设计第29-31页
        3.1.2 高压稳压电路设计第31-32页
        3.1.3 放大电路设计第32-33页
    3.2 电容传感器设计第33-38页
        3.2.1 电容传感器分类与选择第33-36页
        3.2.2 电容传感器设计第36-38页
    3.3 弱电流检测电路设计第38-40页
        3.3.1 弱电流采集方案选择第38-39页
        3.3.2 弱电流检测电路设计第39-40页
    3.4 机械结构设计第40-48页
        3.4.1 整体机械结构设计第40-42页
        3.4.2 样品扫描台设计第42-44页
        3.4.3 针尖扫描台设计第44-45页
        3.4.4 自动进针机构设计第45-46页
        3.4.5 微动部分机械结构仿真第46-48页
    3.5 本章小结第48-49页
第四章 系统软件设计第49-57页
    4.1 操作系统选择第49-51页
    4.2 文件系统选择第51-53页
    4.3 嵌入式程序设计第53-55页
        4.3.1 嵌入式程序设计流程第53-54页
        4.3.2 STM系统任务分析第54-55页
    4.4 本章小结第55-57页
第五章 系统测试与分析第57-77页
    5.1 压电陶瓷驱动电路测试第57-63页
        5.1.1 稳压电路部分实验测试第57-59页
        5.1.2 放大电路部分实验测试第59-63页
    5.2 电容传感器信号处理电路测试第63-69页
        5.2.1 输出范围和线性度测试第64-67页
        5.2.2 迟滞系数与重复性测试第67-68页
        5.2.3 稳定性和动态性能测试第68-69页
    5.3 弱电流检测电路测试第69-73页
        5.3.1 基准弱电流的产生第70-71页
        5.3.2 线性度与稳定性测试第71-73页
    5.4 系统整体测试实验第73-76页
        5.4.1 STM系统测试第73-75页
        5.4.2 TERS实验测试第75-76页
    5.5 本章小结第76-77页
总结第77-79页
参考文献第79-83页
附录第83-84页
致谢第84-85页
硕士期间的科研成果第85页

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