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基于FPGA的真随机数发生器设计与实现

致谢第7-8页
摘要第8-9页
abstract第9页
第1章 绪论第14-26页
    1.1 研究课题的背景及意义第14页
    1.2 随机数在信息安全中的作用第14-15页
        1.2.1 密钥保证信息安全第14-15页
        1.2.2 随机数是构成密钥的核心第15页
    1.3 随机数的作用与特性第15-18页
        1.3.1 随机数的作用第15-16页
        1.3.2 随机数的特性第16-17页
        1.3.3 真随机与伪随机第17-18页
    1.4 国内外研究现状第18-24页
        1.4.1 基于电阻热噪声的随机数发生器第19-20页
        1.4.2 基于振荡器的随机数发生器第20-22页
        1.4.3 基于亚稳态的真随机数发生器第22-24页
    1.5 论文研究内容与组织结构第24-26页
第2章 随机数与FPGA相关知识介绍第26-33页
    2.1 FPGA相关知识第26-30页
        2.1.1 FPGA的发展历程第26-27页
        2.1.2 FPGA发展应用场景第27-29页
        2.1.3 FPGA相关真随机数发生器第29-30页
    2.2 FPGA开发板及相关软件介绍第30-33页
        2.2.1 Virtex-6系列FPGA简介第30-31页
        2.2.2 XilinxISE13.2软件简介第31-33页
第3章 真随机数发生器的总体结构及设计第33-43页
    3.1 latch结构第33-36页
        3.1.1 传统latch结构第33-34页
        3.1.2 非传统亚稳态结构第34-36页
        3.1.3 已有方法的不足与改进第36页
    3.2 基于latch结构改进的随机数提取方法第36-40页
        3.2.1 改进后的Latch结构第37页
        3.2.2 FMS功能第37-38页
        3.2.3 Microblaze软核功能第38-40页
    3.3 可调节的latch结构与整体操作流程第40-43页
第4章 实验验证第43-52页
    4.1 实验平台第43-44页
    4.2 latch结构底层布局第44-45页
    4.3 可用随机位与时钟周期关系第45-46页
    4.4 NIST随机性测试第46-48页
        4.4.1 15项NIST随机性测试标准第46页
        4.4.2 cygwin平台与NIST测试结果第46-48页
    4.5 真随机数发生器抗PVT性能第48-50页
        4.5.1 温度电压控制模块第48页
        4.5.2 温度测试结果第48-49页
        4.5.3 电压测试结果第49-50页
        4.5.4 工艺偏差测试结果第50页
    4.6 性能比较第50-52页
第5章 总结和展望第52-54页
    5.1 全文总结第52-53页
    5.2 研究工作展望第53-54页
参考文献第54-58页
攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况第58-59页

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