摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6页 |
第一章 引言 | 第10-30页 |
1.1. 中子散射与中子散射谱仪 | 第10-15页 |
1.1.1 中子散射 | 第11-13页 |
1.1.2 中子散射谱仪 | 第13-15页 |
1.2. 中子散射中的位置灵敏探测器的发展 | 第15-23页 |
1.2.1 基于感应条(丝)读出的中子位置灵敏气体探测器 | 第15-19页 |
1.2.2 基于位置灵敏电极读出的中子敏感MCP | 第19-23页 |
1.3. 论文研究的内容、意义 | 第23-25页 |
1.4. 论文的结构安排 | 第25页 |
参考文献 | 第25-30页 |
第二章 国内外相关读出电子学系统的研究 | 第30-50页 |
2.1. 基于感应条(丝)读出的气体探测器读出方法 | 第30-33页 |
2.1.1 电荷分配法 | 第30-32页 |
2.1.2 延迟线读出法 | 第32-33页 |
2.1.3 重心法 | 第33页 |
2.2. 基于感应条读出的中子敏感MCP读出系统 | 第33-39页 |
2.2.1 XDL电极中子成像探测器读出系统介绍 | 第33-36页 |
2.2.2 WSA电极中子成像探测器读出系统介绍 | 第36页 |
2.2.3 XSA电极中子成像探测器读出系统介绍 | 第36-38页 |
2.2.4 Pixel电极中子成像探测器读出系统介绍 | 第38-39页 |
2.3. 多路复用读出系统 | 第39-44页 |
2.3.1 CPHS的小角散射谱仪 | 第39-42页 |
2.3.2 ZEUS(粒子探测器)实验 | 第42-44页 |
2.4. 小结 | 第44-46页 |
参考文献 | 第46-50页 |
第三章 基于开关阵列的多路复用读出方法 | 第50-80页 |
3.1. 电荷测量技术 | 第50-59页 |
3.1.1 电荷测量的技术路线 | 第50-53页 |
3.1.2 电荷测量电路的关键部分 | 第53-59页 |
3.2. 电子学任务与指标 | 第59-63页 |
3.2.1 多丝正比室信号特征 | 第59-62页 |
3.2.2 任务与指标 | 第62-63页 |
3.3. 基于开关阵列的多路复用读出方法 | 第63-66页 |
3.4. 基于PXle平台实现的读出系统架构 | 第66-69页 |
3.5. 位置测量精度分析与计算 | 第69-77页 |
3.5.1 噪声分析 | 第72-77页 |
参考文献 | 第77-80页 |
第四章 系统硬件电路设计与实现 | 第80-106页 |
4.1. 模拟信号调理电路 | 第80-93页 |
4.1.1 模拟电路母板的硬件设计 | 第81-86页 |
4.1.2 模拟电路子板的硬件设计 | 第86-93页 |
4.2. 模数转换电路 | 第93-98页 |
4.2.1 模数转换模块母板的设计 | 第93-96页 |
4.2.2 模数转换模块子板的设计 | 第96-98页 |
4.3. 时钟与触发扇出电路 | 第98-101页 |
4.3.1 时钟信号的产生 | 第98页 |
4.3.2 采样保持电路的控制 | 第98-101页 |
4.4. 读出电子学系统架构总结 | 第101-102页 |
参考文献 | 第102-106页 |
第五章 电子学系统测试 | 第106-136页 |
5.1. 系统测试目标 | 第106页 |
5.2. 模拟电路测试 | 第106-116页 |
5.2.1 IDE1180模块的测试与评估 | 第106-113页 |
5.2.2 开关阵列的测试 | 第113-116页 |
5.3. ADC部分测试 | 第116-117页 |
5.4. 基于开关阵列的扫描式重心法实验室环境下的验证与评估 | 第117-128页 |
5.4.1 通道不一致性测试 | 第121-122页 |
5.4.2 开关阵列的切换频率为6.25 MHz | 第122-124页 |
5.4.3 开关阵列的切换频率为12.5MHz | 第124-125页 |
5.4.4 开关阵列的切换频率为25 MHz | 第125-127页 |
5.4.5 小结 | 第127-128页 |
5.5. 电子学系统实验室环境测试 | 第128-131页 |
5.6. 电子学系统与探测器联合测试 | 第131-134页 |
参考文献 | 第134-136页 |
第六章 总结与展望 | 第136-142页 |
6.1 总结 | 第136-137页 |
6.2 工作亮点与创新点 | 第137页 |
6.3 展望 | 第137-142页 |
附录 | 第142-146页 |
致谢 | 第146-148页 |
在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第148页 |