本体调试中标签有序化及公理的扩展选择
| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-11页 |
| 1.2 研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 主要工作和组织结构 | 第12-14页 |
| 第2章 预备知识 | 第14-18页 |
| 2.1 描述逻辑 | 第14-15页 |
| 2.2 逻辑推理 | 第15-16页 |
| 2.3 公理定位：MUPS 和 MIPS | 第16页 |
| 2.4 细粒度公理定位 | 第16-18页 |
| 第3章 基于有序标签的 MIPS 求解 | 第18-30页 |
| 3.1 基本概念 | 第18-19页 |
| 3.2 R-MUPS 定位算法 | 第19-24页 |
| 3.2.1 算法思想 | 第19-20页 |
| 3.2.2 算法描述 | 第20-24页 |
| 3.3 运行实例 | 第24-26页 |
| 3.4 正确性证明 | 第26-30页 |
| 第4章 基于公理扩展选择的 MUPS 求解 | 第30-36页 |
| 4.1 碰集算法 | 第30-31页 |
| 4.2 计算所有 MUPS | 第31-33页 |
| 4.2.1 算法思想 | 第31页 |
| 4.2.2 算法描述 | 第31-33页 |
| 4.3 运行实例 | 第33-34页 |
| 4.4 正确性证明 | 第34-36页 |
| 第5章 实验测评 | 第36-43页 |
| 5.1 实验数据 | 第36-38页 |
| 5.1.1 自动生成的本体测试集 | 第36-37页 |
| 5.1.2 现有本体及其扩建本体 | 第37-38页 |
| 5.2 基于有序标签调试方法的评测 | 第38-40页 |
| 5.3 基于公理扩展选择调试方法的评测 | 第40-43页 |
| 第6章 总结与展望 | 第43-45页 |
| 6.1 结论 | 第43-44页 |
| 6.2 展望 | 第44-45页 |
| 参考文献 | 第45-48页 |
| 作者简介及在学期间所取得的科研成果 | 第48-49页 |
| 致谢 | 第49页 |
