| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 电子能谱学概述 | 第9-11页 |
| 1.2 表面和团簇的键弛豫 | 第11-12页 |
| 1.3 Mo表面和团簇的研究现状 | 第12-15页 |
| 1.4 本论文的选题依据和主要内容 | 第15-17页 |
| 第2章 理论基础 | 第17-31页 |
| 2.1 键弛豫理论 | 第17-24页 |
| 2.1.1 键序-键长-键强（BOLS）理论或键弛豫理论 | 第17-18页 |
| 2.1.2 化学键–能带–势垒关联理论 | 第18-19页 |
| 2.1.3 键弛豫理论的数学表达 | 第19-21页 |
| 2.1.4 纳米材料的核壳模型 | 第21-24页 |
| 2.2 能带理论 | 第24-27页 |
| 2.2.1 近自由电子近似模型 | 第25-26页 |
| 2.2.2 紧束缚近似模型 | 第26-27页 |
| 2.3 X射线光电子能谱 | 第27-29页 |
| 2.4 密度泛函理论计算 | 第29-30页 |
| 2.5 本章小结 | 第30-31页 |
| 第3章 Mo表面芯能级偏移 | 第31-37页 |
| 3.1 键弛豫理论与XPS谱结合 | 第31-33页 |
| 3.1.1 BOLS理论与紧束缚近似理论结合 | 第31-32页 |
| 3.1.2 XPS解谱的基本原理及方法 | 第32-33页 |
| 3.2 Mo表面的 3d5/2能级偏移 | 第33-36页 |
| 3.3 本章小结 | 第36-37页 |
| 第4章 Mo纳米团簇的能态密度分析 | 第37-42页 |
| 4.1 Mo纳米团簇能级的尺寸效应分析 | 第37-39页 |
| 4.2 Mo纳米团簇的芯能级偏移和价带极化 | 第39-41页 |
| 4.3 本章小结 | 第41-42页 |
| 第5章 总结和展望 | 第42-44页 |
| 5.1 全文总结 | 第42页 |
| 5.2 工作展望 | 第42-44页 |
| 参考文献 | 第44-50页 |
| 致谢 | 第50-51页 |
| 个人简历与在校期间发表的学术论文与研究成果 | 第51页 |