| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-20页 |
| 1.1 选题背景 | 第11页 |
| 1.2 微弧氧化技术概述 | 第11-15页 |
| 1.2.1 微弧氧化成膜机理 | 第12-13页 |
| 1.2.2 微弧氧化技术的应用与发展 | 第13-15页 |
| 1.3 超声技术概述 | 第15-16页 |
| 1.3.1 超声空化效应 | 第15-16页 |
| 1.3.2 超声技术的应用 | 第16页 |
| 1.4 目前镁合金表面加工技术的发展现状 | 第16-17页 |
| 1.5 研究的目的和意义 | 第17页 |
| 1.6 本文主要研究内容及技术路线 | 第17-19页 |
| 1.7 本章小结 | 第19-20页 |
| 第二章 实验材料及方法 | 第20-29页 |
| 2.1 实验材料 | 第20-22页 |
| 2.1.1 试样材料与前处理 | 第20-21页 |
| 2.1.2 电解液的制备 | 第21-22页 |
| 2.2 实验设备 | 第22-25页 |
| 2.3 微弧氧化膜层性能测试方法 | 第25-28页 |
| 2.3.1 生成膜层的厚度测量 | 第25页 |
| 2.3.2 膜层表面粗糙度的测量 | 第25页 |
| 2.3.3 硬度测试 | 第25-26页 |
| 2.3.4 表面形貌分析 | 第26-27页 |
| 2.3.5 膜层相组成检测 | 第27页 |
| 2.3.6 膜层耐腐蚀性能测试 | 第27-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 WE54镁合金超声微弧氧化工艺参数的优化 | 第29-47页 |
| 3.1 电解液成分的确定和超声微弧氧化成膜过程 | 第29-31页 |
| 3.2 工艺参数的优化 | 第31-41页 |
| 3.2.1 正交试验的设计 | 第31-33页 |
| 3.2.2 电流密度对膜层的性能影响 | 第33-35页 |
| 3.2.2.1 电流密度对膜层厚度的影响 | 第33-34页 |
| 3.2.2.2 电流密度对膜层表面粗糙度的影响 | 第34页 |
| 3.2.2.3 电流密度对膜层显微硬度的影响 | 第34-35页 |
| 3.2.3 脉冲频率对膜层的性能影响 | 第35-37页 |
| 3.2.3.1 脉冲频率对膜层厚度的影响 | 第35-36页 |
| 3.2.3.2 脉冲频率对膜层表面粗糙度的影响 | 第36页 |
| 3.2.3.3 脉冲频率对膜层显微硬度的影响 | 第36-37页 |
| 3.2.4 超声功率对膜层的性能影响 | 第37-39页 |
| 3.2.4.1 超声功率对膜层厚度的影响 | 第37-38页 |
| 3.2.4.2 超声功率对膜层表面粗糙度的影响 | 第38-39页 |
| 3.2.4.3 超声功率对膜层显微硬度的影响 | 第39页 |
| 3.2.5 正交试验结果分析 | 第39-41页 |
| 3.3 工艺参数对超声微弧氧化膜层形貌的影响 | 第41-45页 |
| 3.3.1 电流密度的变化对超声微弧氧化膜层形貌的影响 | 第42-44页 |
| 3.3.2 脉冲频率的变化对超声微弧氧化膜层形貌的影响 | 第44页 |
| 3.3.3 超声功率的变化对超声微弧氧化膜层形貌的影响 | 第44-45页 |
| 3.4 本章小结 | 第45-47页 |
| 第四章 基于BP神经网络的超声微弧氧化膜层厚度预测 | 第47-58页 |
| 4.1 BP神经网络 | 第47-51页 |
| 4.1.1 BP神经网络简介 | 第47-49页 |
| 4.1.2 BP神经网络的学习算法 | 第49-51页 |
| 4.2 建模之前的数据采集 | 第51页 |
| 4.3 BP神经网络的结构设计 | 第51-53页 |
| 4.3.1 样本数据的处理 | 第52页 |
| 4.3.2 隐含层层数的确定 | 第52页 |
| 4.3.3 各层节点数的确定 | 第52-53页 |
| 4.4 BP神经网络的构建 | 第53-57页 |
| 4.4.1 BP神经网络的训练和建立 | 第53-55页 |
| 4.4.2 模型的检验 | 第55-57页 |
| 4.5 本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 超声对稀土镁合金微弧氧化的作用机理及对膜层耐蚀性的影响 | 第58-71页 |
| 5.1 引言 | 第58页 |
| 5.2 超声对镁合金微弧氧化过程的影响 | 第58-60页 |
| 5.2.1 超声对微弧氧化起弧电压的影响 | 第58-59页 |
| 5.2.2 超声对微弧氧化放电击穿的影响 | 第59-60页 |
| 5.3 超声对镁合金微弧氧化膜层形貌的影响 | 第60-64页 |
| 5.3.1 超声对膜层厚度和粗糙度的影响 | 第60-62页 |
| 5.3.2 超声微弧氧化膜层孔径及断面形貌的分析 | 第62-64页 |
| 5.4 超声微弧氧化膜层的组织结构 | 第64-66页 |
| 5.4.1 超声膜层的XRD分析 | 第64-65页 |
| 5.4.2 膜层的能谱分析 | 第65-66页 |
| 5.5 超声对镁合金微弧氧化膜层耐蚀性的影响 | 第66-70页 |
| 5.5.1 膜层的浸泡实验 | 第66-67页 |
| 5.5.2 膜层的极化曲线 | 第67-69页 |
| 5.5.3 超声对膜层耐蚀性的机理分析 | 第69-70页 |
| 5.6 本章小结 | 第70-71页 |
| 第六章 总结与展望 | 第71-73页 |
| 6.1 总结 | 第71-72页 |
| 6.2 展望 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-78页 |
| 在读期间公开发表的论文 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79页 |
