摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
英文缩略词 | 第11-12页 |
1 绪论 | 第12-27页 |
1.1 黄曲霉毒素简介 | 第12页 |
1.2 霉菌毒素的生物指示物 | 第12-13页 |
1.3 杂色曲菌素简介 | 第13-15页 |
1.3.1 杂色曲菌素的理化性质 | 第13-14页 |
1.3.2 杂色曲菌素的毒性及其检测方法 | 第14-15页 |
1.4 生物传感器简介 | 第15-16页 |
1.4.1 生物传感器概述 | 第15页 |
1.4.2 酶生物传感器 | 第15-16页 |
1.5 无酶电化学传感器 | 第16-19页 |
1.5.1 无酶电化学传感器简介 | 第16-17页 |
1.5.2 无酶电化学传感器的优势 | 第17-18页 |
1.5.3 无酶电化学传感器取得的研究成果 | 第18-19页 |
1.5.4 无酶电化学传感器的前景 | 第19页 |
1.6 碳纳米管 | 第19-23页 |
1.7 研究背景、目的及意义 | 第23-24页 |
1.8 研究的主要内容 | 第24-25页 |
1.9 本研究的创新性 | 第25-26页 |
1.10 技术路线 | 第26-27页 |
2 Ver A 标准品的制备 | 第27-38页 |
2.1 实验设备与材料 | 第27-29页 |
2.1.1 实验设备 | 第27页 |
2.1.2 实验材料 | 第27-29页 |
2.2 实验方法 | 第29-31页 |
2.2.1 寄生曲霉突变株的培养 | 第29页 |
2.2.2 Ver A 的提取 | 第29页 |
2.2.3 制备型 TLC 板初步分离 Ver A | 第29-30页 |
2.2.4 半制备 HPLC 精制纯化 Ver A | 第30页 |
2.2.5 制备的 Ver A 的 TLC 分析 | 第30-31页 |
2.2.6 制备的 Ver A 的 MS 鉴定 | 第31页 |
2.2.7 Ver A 的纯度分析 | 第31页 |
2.3 实验结果 | 第31-37页 |
2.3.1 寄生曲霉突变株的培养 | 第31-32页 |
2.3.2 Ver A 的提取 | 第32-33页 |
2.3.3 制备型 TLC 板初步分离 Ver A | 第33页 |
2.3.4 半制备 HPLC 精制纯化 Ver A | 第33-35页 |
2.3.5 制备的 Ver A 的 TLC 分析 | 第35页 |
2.3.6 制备的 Ver A 的 MS 鉴定 | 第35-36页 |
2.3.7 Ver A 的纯度分析 | 第36-37页 |
2.4 本章小结 | 第37-38页 |
3 Ver A 电化学传感器电极构建方式的优化 | 第38-71页 |
3.1 实验设备与材料 | 第38-40页 |
3.1.1 实验设备 | 第38页 |
3.1.2 实验材料 | 第38-39页 |
3.1.3 主要的溶液 | 第39-40页 |
3.2 实验方法 | 第40-41页 |
3.2.1 循环伏安法 | 第40页 |
3.2.2 交流阻抗法 | 第40-41页 |
3.2.3 微分脉冲伏安法 | 第41页 |
3.2.4 线性扫描伏安法 | 第41页 |
3.3 实验步骤 | 第41-48页 |
3.3.1 金电极的打磨和清洗 | 第41页 |
3.3.2 碳纳米管的选择 | 第41-42页 |
3.3.3 单壁碳纳米管的纯化和羧化及红外光谱表征 | 第42页 |
3.3.4 单壁碳纳米管的透射电镜观察 | 第42-43页 |
3.3.5 羧化的 SWCNTs 修饰电极 | 第43页 |
3.3.6 SWCNTs 滴涂在电极表面干燥温度的优化 | 第43-44页 |
3.3.7 组装 SWCNTs 浓度的优化 | 第44页 |
3.3.8 自组装单分子膜法(SAMs-SWCNTs)修饰电极的优化 | 第44-45页 |
3.3.9 修饰电极的表面积 | 第45-46页 |
3.3.10 修饰电极各组装过程的特性表征 | 第46-47页 |
3.3.11 Ver A 传感器电极的构建方式 | 第47页 |
3.3.12 SWCNTs/CSm/Au 组装过程中不同电极对 Ver A 的响应性能 | 第47-48页 |
3.4 实验结果 | 第48-70页 |
3.4.1 金电极的打磨和清洗 | 第48页 |
3.4.2 碳纳米管的选择 | 第48-50页 |
3.4.3 单壁碳纳米管的纯化和羧化及红外光谱表征 | 第50-51页 |
3.4.4 单壁碳纳米管的透射电镜观察 | 第51-52页 |
3.4.5 羧化的 SWCNTs 修饰电极 | 第52-54页 |
3.4.6 SWCNTs 滴涂在电极表面干燥温度的优化 | 第54-56页 |
3.4.7 组装 SWCNTs 浓度的优化 | 第56-57页 |
3.4.8 自组装单分子膜法(SAMs-SWCNTs)修饰电极的优化 | 第57-61页 |
3.4.9 修饰电极的表面积 | 第61-62页 |
3.4.10 修饰电极各组装过程的特性表征 | 第62-68页 |
3.4.11 Ver A 传感器电极的构建方式 | 第68-69页 |
3.4.12 SWCNTs/CSm/Au 组装过程中电极对 Ver A 的响应性能 | 第69-70页 |
3.5 本章小结 | 第70-71页 |
4 SWCNTs/CSm/Au 传感器电极检测 Ver A 条件优化及其性能评价 | 第71-83页 |
4.1 实验设备与材料 | 第71-72页 |
4.1.1 实验设备 | 第71页 |
4.1.2 实验材料 | 第71-72页 |
4.1.3 主要的溶液 | 第72页 |
4.2 实验方法 | 第72-73页 |
4.2.1 循环伏安法 | 第72-73页 |
4.2.2 微分脉冲伏安法 | 第73页 |
4.3 实验步骤 | 第73-75页 |
4.3.1 检测 Ver A 条件的优化 | 第73-74页 |
4.3.2 SWCNTs/CSm/Au 传感器电极对 Ver A 的响应性能测定 | 第74页 |
4.3.3 SWCNTs/CSm/Au 传感器电极的抗干扰性 | 第74页 |
4.3.4 SWCNTs/CSm/Au 传感器电极对 Ver A 响应信号的重现性 | 第74页 |
4.3.5 SWCNTs/CSm/Au 传感器电极的制作重现性 | 第74-75页 |
4.3.6 SWCNTs/CSm/Au 传感器电极的存储稳定性 | 第75页 |
4.4 实验结果 | 第75-82页 |
4.4.1 检测 Ver A 条件的优化 | 第75-78页 |
4.4.2 SWCNTs/CSm/Au 传感器电极对 Ver A 的响应性能测定 | 第78-79页 |
4.4.3 SWCNTs/CSm/Au 传感器电极的抗干扰性 | 第79-80页 |
4.4.4 SWCNTs/CSm/Au 传感器电极对 Ver A 响应信号的重现性 | 第80-81页 |
4.4.5 SWCNTs/CSm/Au 传感器电极的制作重现性 | 第81页 |
4.4.6 SWCNTs/CSm/Au 电极的存储稳定性 | 第81-82页 |
4.5 本章小结 | 第82-83页 |
5 SWCNTs/CSm/Au 电极检测玉米样品中的 Ver A | 第83-87页 |
5.1 实验设备与材料 | 第83-84页 |
5.1.1 实验设备 | 第83页 |
5.1.2 实验材料 | 第83-84页 |
5.2 实验方法 | 第84-85页 |
5.2.1 回收率的测定 | 第84页 |
5.2.2 实际玉米样品中 Ver A 的检测 | 第84-85页 |
5.3 实验结果 | 第85-86页 |
5.3.1 回收率的测定 | 第85-86页 |
5.3.2 实际玉米样品中 Ver A 的检测 | 第86页 |
5.4 本章小结 | 第86-87页 |
6 总结讨论与展望 | 第87-89页 |
(1)讨论 | 第87页 |
(2)总结 | 第87-88页 |
(3)展望 | 第88-89页 |
参考文献 | 第89-100页 |
攻读硕士学位期间发表论文及获奖情况 | 第100-101页 |
致谢 | 第101页 |