| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-15页 |
| ·紫外探测技术 | 第7-8页 |
| ·紫外焦平面阵列 | 第8-10页 |
| ·紫外探测器焦平面阵列 CMOS 读出电路的发展状况 | 第10-11页 |
| ·紫外探测器CMOS 读出电路的发展历史 | 第10-11页 |
| ·紫外探测器读出电路的发展趋势 | 第11页 |
| ·课题研究内容及研究意义 | 第11-12页 |
| ·论文的研究方法和主要内容 | 第12-15页 |
| 第二章 紫外探测器焦平面阵列 CMOS 读出电路的研究 | 第15-29页 |
| ·读出电路的技术要求 | 第15-17页 |
| ·探测器偏压控制 | 第15页 |
| ·注入效率和输入范围 | 第15页 |
| ·电荷存储能力 | 第15页 |
| ·噪声 | 第15-16页 |
| ·动态范围 | 第16页 |
| ·读出速率 | 第16页 |
| ·积分时间 | 第16-17页 |
| ·探测器焦平面阵列的面积 | 第17页 |
| ·功耗 | 第17页 |
| ·工作温度 | 第17页 |
| ·常规的CMOS 读出电路结构 | 第17-26页 |
| ·自积分结构(SI) | 第18-19页 |
| ·源跟随器结构(SFD) | 第19页 |
| ·直接注入结构(DI) | 第19-20页 |
| ·栅调制输入(GMI) | 第20-21页 |
| ·缓冲直接注入结构(BDI) | 第21-22页 |
| ·电容反馈跨阻放大器(CTIA) | 第22-23页 |
| ·公共缓冲直接注入结构(SBDI) | 第23-24页 |
| ·开关电流积分结构(SCI) | 第24-25页 |
| ·缓冲栅调制结构(BGMI) | 第25-26页 |
| ·常规CMOS 读出电路的性能比较及单元电路选取 | 第26页 |
| ·本章小结 | 第26-29页 |
| 第三章 紫外探测器读出电路设计 | 第29-51页 |
| ·CTIA 结构中运算放大器的设计 | 第29-33页 |
| ·CTIA 积分电路 | 第33-35页 |
| ·相关双采样电路 | 第35-36页 |
| ·减法器电路 | 第36-37页 |
| ·带隙电压基准 | 第37-40页 |
| ·输出缓冲电路 | 第40-43页 |
| ·顺序脉冲发生器 | 第43-45页 |
| ·欠压锁定电路 | 第45-46页 |
| ·单元读出电路仿真 | 第46-49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 第四章 紫外焦平面阵列的噪声分析及噪声抑制 | 第51-59页 |
| ·紫外探测器中的噪声 | 第51-53页 |
| ·读出电路中的噪声 | 第53-55页 |
| ·MOS 管热噪声 | 第53页 |
| ·MOS 管1/f 噪声 | 第53-54页 |
| ·KTC 噪声 | 第54页 |
| ·固定图形噪声 | 第54-55页 |
| ·读出电路中噪声的抑制 | 第55-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 总结与展望 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |