| 中文摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 TDI CMOS 图像传感器概述 | 第8-9页 |
| 1.2 TDI CMOS 图像传感器发展现状 | 第9-11页 |
| 1.3 课题研究目的和意义 | 第11-12页 |
| 1.4 本文的组织结构 | 第12-13页 |
| 第二章 TDI CMOS 图像传感器的架构分析 | 第13-23页 |
| 2.1 TDI CMOS 图像传感器的曝光方式 | 第13-17页 |
| 2.1.1 全局曝光方式 | 第13-14页 |
| 2.1.2 列滚筒曝光方式 | 第14-15页 |
| 2.1.3 行滚筒曝光方式 | 第15-17页 |
| 2.2 TDI CMOS 图像传感器中的列级 ADC 概述 | 第17-20页 |
| 2.2.1 单斜 ADC | 第18-19页 |
| 2.2.2 逐次逼近 ADC | 第19页 |
| 2.2.3 循环 ADC | 第19-20页 |
| 2.3 TDI CMOS 图像传感器的累加方案 | 第20-22页 |
| 2.3.1 模拟读出电路的基本原理 | 第20-21页 |
| 2.3.2 数字读出电路的基本原理 | 第21-22页 |
| 2.4 小结 | 第22-23页 |
| 第三章 时域 ADC 架构分析 | 第23-36页 |
| 3.1 VTC 结构分析 | 第23-26页 |
| 3.1.1 反相器型 VTC | 第23-24页 |
| 3.1.2 差分对型 VTC | 第24-25页 |
| 3.1.3 电容-比较器型 VTC | 第25-26页 |
| 3.2 TDC 结构分析 | 第26-29页 |
| 3.2.1 单计数器 TDC | 第26页 |
| 3.2.2 Flash TDC | 第26-28页 |
| 3.2.3 Vernier 振荡器型 TDC | 第28页 |
| 3.2.4 循环脉冲缩减 TDC | 第28-29页 |
| 3.3 TDA 结构分析 | 第29-35页 |
| 3.3.1 交叉延时链 TDA | 第29-31页 |
| 3.3.2 S-R 锁存器 TDA | 第31-32页 |
| 3.3.3 电容-比较器型 TDA | 第32-35页 |
| 3.4 本章小结 | 第35-36页 |
| 第四章 时域 ADC 电路的设计与仿真 | 第36-49页 |
| 4.1 时域 ADC 系统功能框图 | 第36页 |
| 4.2 电压-时间转换器 VTC 的电路设计及仿真 | 第36-38页 |
| 4.3 循环 TDC 的电路设计及仿真 | 第38-44页 |
| 4.4 时间放大器 TDA 电路设计及仿真 | 第44-48页 |
| 4.5 读出电路结构分析 | 第48页 |
| 4.6 本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 数字域累加器电路设计与仿真 | 第49-66页 |
| 5.1 数字累加器的电路设计与版图实现 | 第49-57页 |
| 5.2 数字累加电路控制时序 | 第57-60页 |
| 5.3 累加器电路的流片测试 | 第60-65页 |
| 5.3.1 测试芯片管脚说明 | 第60-61页 |
| 5.3.2 测试流程 | 第61-64页 |
| 5.3.3 流片测试结果 | 第64-65页 |
| 5.4 本章小结 | 第65-66页 |
| 第六章 总结与展望 | 第66-68页 |
| 6.1 总结 | 第66-67页 |
| 6.2 展望 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73页 |