摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-11页 |
第一章 绪论 | 第11-15页 |
·课题的意义 | 第11页 |
·国内外的研究现状 | 第11-13页 |
·本论文研究的内容 | 第13-15页 |
第二章 制作和表征ZrO_2光学薄膜 | 第15-25页 |
·溶胶-凝胶法的优点 | 第15页 |
·溶胶-凝胶法制备膜层的应用 | 第15-17页 |
·着色膜的制备 | 第15页 |
·波导膜的制备 | 第15-16页 |
·分离膜的制备 | 第16页 |
·多层高反膜的制备 | 第16-17页 |
·减反射膜的制备 | 第17页 |
·影响胶体性能的因素 | 第17-18页 |
·溶胶浓度 | 第17-18页 |
·催化剂 | 第18页 |
·加水量 | 第18页 |
·反应温度 | 第18页 |
·ZrO_2化学膜的涂膜方法 | 第18-20页 |
·薄膜表征常用的实验仪器 | 第20-24页 |
·相衬显微镜 | 第20-21页 |
·原子力显微镜 | 第21-22页 |
·椭偏仪 | 第22-24页 |
·小结 | 第24-25页 |
第三章 光学薄膜在强激光辐照下的损伤 | 第25-34页 |
·薄膜损伤的微观机制 | 第25-27页 |
·多光子电离 | 第25-26页 |
·杂质缺陷诱导 | 第26页 |
·电子雪崩电离 | 第26页 |
·复合损伤 | 第26-27页 |
·对薄膜激光损伤阈值造成影响的几个方面 | 第27-30页 |
·薄膜膜厚的影响 | 第27-28页 |
·光斑效应的影响 | 第28页 |
·缺陷和杂质的影响 | 第28-29页 |
·脉宽效应影响 | 第29-30页 |
·波长效应影响 | 第30页 |
·累积效应影响 | 第30页 |
·判定薄膜损伤的方法 | 第30-31页 |
·散射光检测法 | 第30-31页 |
·相衬显微法 | 第31页 |
·等离子体闪光法 | 第31页 |
·测试激光损伤阈值的方法 | 第31-33页 |
·零几率损伤阈值 | 第31-32页 |
·50%几率损伤阈值 | 第32页 |
·R-on-1 损伤阈值 | 第32-33页 |
·小结 | 第33-34页 |
第四章 ZrO_2化学膜与物理膜损伤机理的对比研究 | 第34-54页 |
·制备ZrO_2化学膜和物理膜 | 第34-35页 |
·薄膜的测试 | 第35-48页 |
·ZrO_2化学膜和物理膜的损伤阈值的测量 | 第35-42页 |
·不同厚度ZrO_2化学膜的损伤阈值的测量 | 第36-38页 |
·不同厚度ZrO_2物理膜的损伤阈值的测量 | 第38-42页 |
·ZrO_2化学膜和物理膜的热吸收系数的测试 | 第42-46页 |
·ZrO_2化学膜和物理膜的孔隙率的测试 | 第46-48页 |
·ZrO_2化学膜和物理膜的折射率的测量 | 第46-47页 |
·ZrO_2化学膜和物理膜的孔隙率的计算 | 第47-48页 |
·实验结果及分析 | 第48-49页 |
·测试ZrO_2化学膜和物理膜的表面形貌 | 第49-52页 |
·ZrO_2化学膜和物理膜的原子力显微镜的观测形貌 | 第49-50页 |
·激光辐照前ZrO_2化学膜和物理膜膜层的显微观测形貌 | 第50-51页 |
·激光辐照后ZrO_2化学膜和物理膜膜层典型的损伤形貌 | 第51-52页 |
·小结 | 第52-54页 |
第五章 总结 | 第54-56页 |
致谢 | 第56-57页 |
参考文献 | 第57-61页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第61-62页 |